[发明专利]图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法及系统

权利要求书

1.一种图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法，其特征在于，包括：第一阶段和第二阶段；

所述第一阶段包括：

将整个测量谱段划分为若干谱段，获得各个谱段内所述图谱关联系统中光谱传感器的系统辐射偏置随温度变化的变化模型后，综合得到整个测量谱段内系统辐射偏置随温度变化的变化模型b(λ″)；

所述第二阶段包括：

在任一测量时刻，获得外场条件下的实时温度t，代入所述变化模型b(λ″)后，得到所述光谱传感器实际的系统辐射偏置b_t(λ″)，从而实现对所述光谱传感器的系统辐射偏置的自适应校正；

在所述第一阶段中，对于划分得到的任意一个谱段[λ_m,λ_m+1]，获得该谱段内所述系统辐射偏置随温度变化的变化模型，包括：

(S1)在室内光学定标环境下，利用所述光谱传感器在不同测量温度下，分别测量J个黑体的响应值；J个黑体的温度互不相同，J≥2；

(S2)对于每一个测量温度T_k，对不同黑体的响应值采用最小二乘法进行拟合，从而得到测量温度T_k下的系统辐射偏置和系统响应函数k(λ)；k∈{1,2,…K}，K为测量温度的总数；

(S3)在获得所有测量温度所对应的系统辐射偏置后，采用线性模型进行拟合，得到所述系统辐射偏置随温度变化的变化模型为：b(λ)＝d-aT，若a＜0，则设置a＝0，否则，a保持不变，最终得到谱段[λ_m,λ_m+1]内系统辐射偏置随温度变化的变化模型b(λ′)；d和a均为线性模型参数，λ_m和λ_m+1分别为谱段的波长下界和波长上界。

2.如权利要求1所述的图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法，其特征在于，所述步骤(S1)包括：

(S11)在室内光学定标环境下，对于任意一个黑体Black_j，在任意一个测量温度T_k下，利用所述光谱传感器测量黑体Black_j的n个响应值DN₁(T_k,Black_j)(λ)～DN_n(T_k,Black_j)(λ)，并进行去噪处理，从而得到黑体Black_j在测量温度T_k下的响应值n为正整数；

(S12)在每一个测量温度下，分别执行步骤(S11)，从而得到黑体Black_j在各个测量温度下的响应值

(S13)对于每一个黑体，分别执行步骤(S12)，从而得到各个黑体在各个测量温度下的响应值。

3.如权利要求2所述的图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法，其特征在于，所述步骤(S11)中，通过均值滤波处理或小波软阈值滤波处理对n个响应值DN₁(T_k,Black_j)(λ)～DN_n(T_k,Black_j)(λ)进行去噪处理。

4.如权利要求1所述的图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法，其特征在于，所述第二阶段还包括：

在得到自适应校正之后的系统辐射偏置b_t(λ″)后，利用所述光谱传感器获得被测对象在实时温度t下的响应值DN_targer(λ,t)，根据辐射校正公式计算所述被测对象的真实辐射亮度G(λ,t)。

5.如权利要求4所述的图谱关联系统光谱偏置外场的自适应校正方法，其特征在于，所述第二阶段还包括：

在获得所述被测对象的真实辐射亮度G(λ,t)后，与所述被测对象的实际面积相乘，从而得到所述被测对象的辐射强度。