[发明专利]终端天线阵元间相位差的测试方法、修正方法及测试设备

摘要

本申请公开一种终端天线阵元间相位差的测试方法，步骤如下：选取基准阵元和比较阵元，先让基准阵元发射第一路信号和第二路信号，获取对应相位参数φA1和相位参数φB1并做归一化处理；让基准阵元持续输出第一路信号，获取对应相位参数φA1，第二路信号由比较阵元按序切换发射，获取对应相位参数φB2、φB3…φBN，计算φB2与φA1的差值、φB3与φA1的差值…φBN与φA1的差值，得到比较阵元B极化信号与基准阵元的A极化信号之间的相位差。本申请终端天线阵元间相位差的测试方法通过归一化处理实现终端产品中天线阵元的相位差测试，避免对终端产品的拆卸。本申请还提供一种终端天线阵元间相位差的修正方法和测试设备。