[发明专利]终端天线阵元间相位差的测试方法、修正方法及测试设备

权利要求书

1.一种终端天线阵元间相位差的测试方法，其特征在于，包括：

将终端产品放置在电波暗室中，选取所述终端产品中天线阵列的一个阵元为基准阵元，其余的多个阵元为比较阵元；

借助矢量信号发生器控制所述终端产品发射第一路信号和第二路信号，所述第一路信号为所述基准阵元发射的A极化信号，所述第二路信号为所述基准阵元发射的B极化信号；

借助测试天线和矢量网络分析仪，获取所述A极化信号对应的相位参数φ_A1和所述B极化信号所对应相位参数φ_B1；

将所述相位参数φ_A1和所述相位参数φ_B1进行归一化处理，以使所述相位参数φ_A1等于所述相位参数φ_B1；

保持所述第一路信号不变，将所述第二路信号切换为所述比较阵元的B极化信号，所述比较阵元的B极化信号由多个所述比较阵元按序切换发射形成；

获取所述比较阵元发射的B极化信号对应相位参数值φ_B2、φ_B3……φ_BN；

分别计算φ_B2与φ_A1的差值、φ_B3与φ_A1的差值……φ_BN与φ_A1的差值，以分别得到各所述比较阵元B极化信号与所述基准阵元的A极化信号之间的相位差。

2.如权利要求1所述的终端天线阵元间相位差的测试方法，其特征在于，分别得到各所述比较阵元B极化信号与所述基准阵元的A极化信号之间的相位差之后的步骤还包括：

启动所述终端产品发射第三路信号和第四路信号，所述第三路信号为所述基准阵元发射的A极化信号，所述第四路信号为所述基准阵元发射的B极化信号；

获取所述A极化信号对应的相位参数φ_A1和所述B极化信号所对应相位参数φ_B1；

将所述相位参数φ_A1和所述相位参数φ_B1进行归一化处理，以使所述相位参数φ_A1等于所述相位参数φ_B1；

保持所述第四路信号不变，将所述第三路信号切换为所述比较阵元的A极化信号，所述比较阵元的A极化信号由多个所述比较阵元按序切换发射形成；

获取所述比较阵元发射的A极化信号对应相位参数值φ_A2、φ_A3……φ_AN；

分别计算φ_A2与φ_B1的差值、φ_A3与φ_B1的差值……φ_AN与φ_B1的差值，以分别得到各所述比较阵元A极化信号与所述基准阵元的B极化信号之间的相位差。

3.如权利要求1所述的终端天线阵元间相位差的测试方法，其特征在于，所述第一路信号和所述第二路信号的发射过程是同时进行。

4.如权利要求1所述的终端天线阵元间相位差的测试方法，其特征在于，分别获取所述基准阵元发射A极化信号对应的相位参数φ_A1，发射B极化信号所对应相位参数φ_B1的步骤包括：

通过双极化测试天线接收所述基准阵元发射的A极化信号和B极化信号；

将所述双极化测试天线接入矢量网络分析仪的两个端口，使所述矢量网络分析仪获取所述基准阵元发射的A极化信号和B极化信号；

根据所述基准阵元发射的A极化信号和B极化信号，所述矢量网络分析仪得出对应的相位参数φ_A1和相位参数φ_B1。

5.如权利要求4所述的终端天线阵元间相位差的测试方法，其特征在于，通过将所述矢量网络分析仪的S参数设置为相位参数，以将所述基准阵元发射的A极化信号和B极化信号转化为对应的相位参数φ_A1和相位参数φ_B1。