[发明专利]嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质有效
| 申请号： | 201911400180.1 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111210863B | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 叶欣;张翔;黄裕全 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其中，该嵌入式存储器测试方法包括：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。本发明的嵌入式存储器测试方法可同时对eMMC和DDR进行测试，节省测试时间，提高测试效率以及降低成本支出。此外，本发明还公开一种嵌入式存储器测试装置、设备和计算机存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 存储器 测试 方法 装置 设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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