[发明专利]嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质

权利要求书

1.一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其特征在于，包括：

接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；

接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；

获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。

2.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述根据第一信号指令控制所述eMMC开始测试包括：

当接收到所述第一信号指令时，反馈相应的应答信号；

接收根据所述应答信号所下发的测试包，将所述测试包发送给所述eMMC，以使所述eMMC利用所述测试包进行测试。

3.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述根据第二信号指令控制所述DDR开始测试包括：

依次对所述DDR的多段空间进行数据读写测试；

若所述DDR当前一段空间的所述数据读写测试正确，则对所述DDR的下一段空间进行数据读写测试；

若所述DDR当前一段空间的所述数据读写测试错误，则停止对所述DDR进行测试。

4.根据权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于，所述获取eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格包括：

若所述eMMC和DDR的测试结果均为正常，则判定所述嵌入式存储器合格；

若所述eMMC和DDR的任一测试结果存在异常，则判定所述嵌入式存储器不合格。

5.一种嵌入式存储器测试装置，其特征在于，包括：

eMMC测试模块，用于接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；

DDR测试模块，用于接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；

判定模块，用于获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。

6.根据权利要求5所述的嵌入式存储器测试装置，其特征在于，所述eMMC测试模块包括：

反馈单元，用于当接收到所述第一信号指令时，反馈相应的应答信号；

测试单元，用于接收根据所述应答信号所下发的测试包，将所述测试包发送给所述eMMC，以使所述eMMC利用所述测试包进行测试。

7.根据权利要求5所述的嵌入式存储器测试装置，其特征在于，所述DDR测试模块包括：

读写测试单元，用于依次对所述DDR的多段空间进行数据读写测试；

继续测试单元，用于当所述DDR当前一段空间的所述数据读写测试正确时，对所述DDR的下一段空间进行数据读写测试；

停止测试单元，用于当所述DDR当前一段空间的所述数据读写测试错误时，停止对所述DDR进行测试。

8.根据权利要求5所述的嵌入式存储器测试装置，其特征在于，所述判定模块包括：

第一判定单元，用于当所述eMMC和DDR的测试结果均为正常时，判定所述嵌入式存储器合格；

第二判定单元，若所述eMMC和DDR的任一测试结果存在异常，则判定所述嵌入式存储器不合格。

9.一种嵌入式存储器测试设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4中任一项所述嵌入式存储器测试方法的步骤。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述嵌入式存储器测试方法的步骤。