[发明专利]判断摩尔纹的方法、抑制摩尔纹的方法与电路系统在审
| 申请号： | 201911389012.7 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN113129389A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 萧晶如;黄文聪 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/90 | 分类号： | G06T7/90;G06T7/00;G06T1/20 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 毕长生;李文晴 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种判断与抑制摩尔纹的方法，以及电路系统，在所述方法中，取得图像中多个像素的亮度值，可于一检测窗口中选取用以判断摩尔纹类型的多个关键像素，针对各像素，通过检测窗口计算多个关键像素与分别对应的多个邻近像素的一摩尔纹响应值，以及利用检测窗口比对其中关键像素与邻近像素的亮度值，将比对结果进行统计，用以判断各像素的亮度特性，之后可以根据摩尔纹响应值与统计的结果确认图像中的摩尔纹位置与类型。接着，对判断为摩尔纹的多个像素进行色彩降噪。 | ||
| 搜索关键词： | 判断 摩尔 方法 抑制 电路 系统 | ||
【主权项】：
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