[发明专利]一种芯片老化自测试方法及系统在审
| 申请号： | 201911376387.X | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN113049939A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 卜金彪;王占粮;王生鹏;蔡斌;肖青;闫朋飞;孙东昱;姜琨;何晓 | 申请（专利权）人： | 中移物联网有限公司;中国移动通信集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;胡影 |
| 地址： | 401121 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片老化自测试方法及系统，属于芯片老化测试领域，所述方法包括：在上电状态下，读取所述芯片的非易失性存储器的用户配置区域中的目标分类标记；从所述芯片存储的若干老化测试项目的测试程序中选出与所述目标分类标记对应的目标老化测试项目的目标测试程序；执行所述目标测试程序，并获取测试结果数据；存储所述测试结果数据。本发明的芯片老化自测试方法，通过读取芯片的用户配置区域中的目标分类标记，以确定芯片所要进行的老化测试项目，从而使芯片自动执行对应的老化测试项目的程序，无需搭配复杂的测试系统和存储设备，实现芯片的自测试，有效简化了测试过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 老化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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