[发明专利]卡件测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201911369480.8 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN110967588A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 褚浩;郑伟建;梅超 申请(专利权)人: 浙江中控技术股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟
地址: 310053 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种卡件测试系统及方法,该系统包括:控制母板、设置于控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机;控制卡与上位机相连接;控制母板上设置有多个信号源卡槽,每个信号源卡槽用于放置信号源卡;所述测试母板上设置有多个卡件卡槽,每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件;当所述控制卡接收到上位机发送的测试指令时,确定测试指令对应的目标信号源卡与目标卡件;所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试,获得所述目标待测卡件的测试响应参数,将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机,使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。有效的提升了卡件的测试准确率。
搜索关键词: 测试 系统 方法
【主权项】:
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