[发明专利]卡件测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201911369480.8 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN110967588A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 褚浩;郑伟建;梅超 申请(专利权)人: 浙江中控技术股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟
地址: 310053 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统 方法
【说明书】:

发明提供了一种卡件测试系统及方法,该系统包括:控制母板、设置于控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机;控制卡与上位机相连接;控制母板上设置有多个信号源卡槽,每个信号源卡槽用于放置信号源卡;所述测试母板上设置有多个卡件卡槽,每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件;当所述控制卡接收到上位机发送的测试指令时,确定测试指令对应的目标信号源卡与目标卡件;所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试,获得所述目标待测卡件的测试响应参数,将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机,使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。有效的提升了卡件的测试准确率。

技术领域

本发明涉及电子器件测试领域,特别涉及一种卡件测试系统及方法。

背景技术

为了保障用电设备的运行稳定性,通常需要设计冗余电源,即,在某一电源出现故障时,可以切换至备用电源;或者,在某一电源无法满足用电设备的用电需求时,可以将该电源切换为满足用电设备的用电需求的电源。

在设计冗余电路过程中,往往会应用到卡件对电压或电流进行传输,然而,为了保障冗余电路的安全性,需要搭建测试平台对卡件进行测试,应用现有的测试平台对卡件进行测量,由于其结构的缺陷,往往会导致卡件的测量结果不准确,且测试卡件所耗费的时间长。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种卡件测试系统及方法,能够提升卡件测试的准确率,减少测试卡件所耗费的时间。

一种卡件测试系统,包括:控制母板、设置于所述控制母板上的控制卡、测试母板以及上位机;

所述控制卡与所述上位机相连接;

所述控制母板上设置有多个信号源卡槽,每个所述信号源卡槽用于放置信号源卡,使每一所述信号源卡通过其所处的所述信号源卡槽与所述控制卡相连接;

所述测试母板上设置有多个卡件卡槽,每个所述卡件卡槽用于放置待测卡件,使每个所述待测卡件通过其所处的所述卡件卡槽与所述控制卡相连接;

当所述控制卡接收到所述上位机发送的测试指令时,确定所述测试指令对应的目标信号源卡槽与目标卡件卡槽,并打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道,使所述目标信号源卡槽中的目标信号源卡通过所述信号通道与所述目标卡件卡槽中的目标待测卡件相连接;

所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试,获得所述目标待测卡件的测试响应参数,将已获得的所述测试响应参数发送至所述上位机,使所述上位机依据所述测试响应参数得到所述目标待测卡件的测试结果。

上述的系统,可选的,所述控制卡包括:控制器、电源切换电路、开关量信号输出电路以及源卡槽位输出电路;

所述控制器依据所述电源切换电路控制所述目标待测卡件与第一外部电源相连和/或第二外部电源相连接;

所述控制器通过所述开关量信号输出电路与各个所述卡件卡槽相连接,以及与各个所述信号源卡槽相连接;

所述控制器接收到所述测试指令时,通过所述槽位输出电路打开所述目标信号源卡槽与所述目标卡件卡槽之间的信号通道。

上述的系统,可选的,所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试,获得所述目标待测卡件的测试响应参数,包括:

所述控制卡依据所述测试指令中包含的测试参数,通过所述目标信号源卡向所述目标待测卡件输出开关量信号,并接收所述目标待测卡件发送的与所述开关量信号对应的测试响应参数。

上述的系统,可选的,所述控制卡依据所述目标信号源卡对所述目标待测卡件执行与所述测试指令对应的测试,获得所述目标待测卡件的测试响应参数,包括:

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