[发明专利]一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法在审
申请号: | 201911292859.3 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN110907527A | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 王璇;朱勇;段飞;杨婷婷;王忠善;孙芳;李岚森;沈佳妮;李描;罗诗韵;黄薇;甘序 | 申请(专利权)人: | 重庆市计量质量检测研究院 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 | 代理人: | 穆祥维 |
地址: | 401123 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明提供一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法,在该方法中采用了激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪来进行测定,方法包括以下步骤:S1、优化激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪测定目标物的剥蚀光斑、剥蚀能量和剥蚀频率参数;S2、采用优化后的实验参数测试一系列黄金标样,建立黄金样品中各种杂质元素的含量‑信号强度标准曲线;S3、测试待测高纯金首饰样品中杂质元素信号值,通过所述含量‑信号强度标准曲线获得杂质元素含量。本申请省去了溶样前处理,样品损坏属于微损且破坏程度极低,直接进行固体测试避免了外来污染源引入,具有绿色、实时、微损和准确的元素测定特点,是激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪在贵金属检测领域的新应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 测定 纯金 首饰 杂质 元素 含量 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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