[发明专利]一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法在审

专利信息
申请号: 201911292859.3 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN110907527A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 王璇;朱勇;段飞;杨婷婷;王忠善;孙芳;李岚森;沈佳妮;李描;罗诗韵;黄薇;甘序 申请(专利权)人: 重庆市计量质量检测研究院
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 代理人: 穆祥维
地址: 401123 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法,在该方法中采用了激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪来进行测定,方法包括以下步骤:S1、优化激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪测定目标物的剥蚀光斑、剥蚀能量和剥蚀频率参数;S2、采用优化后的实验参数测试一系列黄金标样,建立黄金样品中各种杂质元素的含量‑信号强度标准曲线;S3、测试待测高纯金首饰样品中杂质元素信号值,通过所述含量‑信号强度标准曲线获得杂质元素含量。本申请省去了溶样前处理,样品损坏属于微损且破坏程度极低,直接进行固体测试避免了外来污染源引入,具有绿色、实时、微损和准确的元素测定特点,是激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪在贵金属检测领域的新应用。
搜索关键词: 一种 测定 纯金 首饰 杂质 元素 含量 方法
【主权项】:
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