[发明专利]一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法在审
| 申请号： | 201911292859.3 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN110907527A | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 王璇;朱勇;段飞;杨婷婷;王忠善;孙芳;李岚森;沈佳妮;李描;罗诗韵;黄薇;甘序 | 申请（专利权）人： | 重庆市计量质量检测研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 重庆信航知识产权代理有限公司 50218 | 代理人： | 穆祥维 |
| 地址： | 401123 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测定 纯金 首饰 杂质 元素 含量 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法，其特征在于，在该方法中采用了激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪来进行测定，所述方法包括以下步骤：
S1、优化激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪测定目标物的参数，所述参数包括剥蚀光斑、剥蚀能量和剥蚀频率；
S2、采用优化后的实验参数测试一系列黄金标样，建立黄金样品中各种杂质元素的含量-信号强度标准曲线；
S3、测试待测高纯金首饰样品中杂质元素信号值，通过所述含量-信号强度标准曲线获得杂质元素含量。
2.根据权利要求1所述的测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法，其特征在于，所述激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪选用Agilent 7500等离子体质谱仪。
3.根据权利要求1所述的测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法，其特征在于，所述步骤S1中优化后的参数剥蚀光斑为40～90μm，剥蚀能量为12～19.4J/cm2，剥蚀频率为5～10Hz。
4.根据权利要求1所述的测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法，其特征在于，所述步骤S3中待测高纯金首饰样品中测试的杂质元素包括镁、钛、铬、锰、铁、镍、铜、锌、砷、钌、铑、钯、银、镉、锡、锑、铱、铂、铅、铋。
5.根据权利要求1所述的测定高纯金首饰中杂质元素含量的方法，其特征在于，所述S3中待测高纯金首饰样品为足金黄金。
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