[发明专利]一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法及校准装置在审

专利信息
申请号: 201911281142.9 申请日: 2019-12-11
公开(公告)号: CN110926396A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 任国营 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04;G01B21/00
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 高琦
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法及校准装置。所述方法包括:获取待测测头在X轴方向上的至少两个触发位移值ΔLxi,根据触发位移值ΔLxi,得到测头在X轴方向上的测头触发精度ΔLx;获取待测测头在Y轴方向上的至少两个触发位移值ΔLyi,根据触发位移值ΔLyi,得到测头在Y轴方向上的测头触发精度ΔLy;获取待测测头在Z轴方向上的至少两个触发位移值ΔLzi,根据触发位移值ΔLzi,得到测头在Z轴方向上的测头触发精度ΔLz;根据ΔLx、ΔLy、ΔLz对待测测头进行空间精度校准。所述装置包括标准位移产生器和信号调理单元。本发明的有益效果包括:能够准确的对机床测头或坐标机测头进行精确校准。
搜索关键词: 一种 用于 机床 坐标 机测头 校准 方法 装置
【主权项】:
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