[发明专利]一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法及校准装置

说明书

本发明公开了一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法及校准装置。所述方法包括：获取待测测头在X轴方向上的至少两个触发位移值ΔLxi，根据触发位移值ΔLxi，得到测头在X轴方向上的测头触发精度ΔLx；获取待测测头在Y轴方向上的至少两个触发位移值ΔLyi，根据触发位移值ΔLyi，得到测头在Y轴方向上的测头触发精度ΔLy；获取待测测头在Z轴方向上的至少两个触发位移值ΔLzi，根据触发位移值ΔLzi，得到测头在Z轴方向上的测头触发精度ΔLz；根据ΔLx、ΔLy、ΔLz对待测测头进行空间精度校准。所述装置包括标准位移产生器和信号调理单元。本发明的有益效果包括：能够准确的对机床测头或坐标机测头进行精确校准。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，具体地，涉及一种用于测头探测精度的校准方法及校准装置。

背景技术

随着对制造质量的严格控制和工业4.0实施的日益推进，越来越多的企业认识到：在线加工、在线测量可以极大地提高制造效率和产品精度，可以实现节能降耗，绿色制造。

世界上最先进的制造技术已经可以实现边加工边测量，这是制造业的发展趋势。而测量用测头是保证加工质量的核心。由于测头实现的是三维动态位移的测量，无法利用现有的一维长度校准技术来保证其整体精度。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。例如，本发明的目的之一在于提供一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法及校准装置，以对实现三维动态位移的测头进行精度校准。

本发明一方面提供了一种用于机床测头或坐标机测头的校准方法。所述校准方法可包括步骤：获取待测测头在X轴方向上的至少两个触发位移值ΔLxi，根据X轴方向上的至少两个触发位移值ΔLxi，得到待测测头在X轴方向上的测头触发精度ΔLx；获取待测测头在Y轴方向上的至少两个触发位移值ΔLyi，根据Y轴方向上的至少两个触发位移值ΔLyi，得到待测测头在Y轴方向上的测头触发精度ΔLy；获取待测测头在Z轴方向上的至少两个触发位移值ΔLzi，根据Z轴方向上的至少两个触发位移值ΔLzi，得到待测测头在Z轴方向上的测头触发精度ΔLz；根据ΔLx、ΔLy、ΔLz对待测测头进行空间精度校准；所述X、Y、Z轴包括待测测头在机床或坐标机的工作台上的三维坐标轴，所述触发位移值为待测测头从开始输出电压到达触发临界点时在待测坐标轴方向上的距离。

在本发明的用于机床测头或坐标机测头的校准方法的一个示例性实施例中，所述ΔLx＝max{ΔLxi}，所述ΔLy＝max{ΔLyi}，所述ΔLz＝max{ΔLzi}。

在本发明的用于机床测头或坐标机测头的校准方法的一个示例性实施例中，所述方法还可包括步骤：

获取至少两个触发位移值ΔLxi所对应的至少两个触发时间ΔTxi，根据所述至少两个触发时间ΔTxi，得到待测测头X轴方向上的测头触发时间ΔTx；

获取至少两个触发位移值ΔLyi所对应的至少两个触发时间ΔTyi，根据所述至少两个触发时间ΔTyi，得到待测测头Y轴方向上的测头触发时间ΔTy；

获取至少两个触发位移值ΔLzi所对应的至少两个触发时间ΔTzi，根据所述至少两个触发时间ΔTzi，得到待测测头Z轴方向上的测头触发时间ΔTz；

根据ΔTx、ΔTy、ΔTz，对待测测头进行时间精度校准。

在本发明的用于机床测头或坐标机测头的校准方法的一个示例性实施例中，所述ΔTx＝max{ΔTxi}，所述ΔTy＝max{ΔTyi}，所述ΔTz＝max{ΔTzi}。