[发明专利]一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法在审
| 申请号： | 201911252287.6 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN111174808A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 杨宵;余路伟;毛晓楠;张磊;吕进剑;徐亚娟;武斌;陆建;史哓;韩圣升 | 申请（专利权）人： | 上海航天控制技术研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 贾慧琴;周乃鑫 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，该方法利用太阳模拟器模拟光源，对星敏感器的探测器进行辐照，该方法包括以下步骤：(1)对所述太阳模拟器的照度进行测量，以确定所述太阳模拟器的照度；(2)使所述的星敏感器光轴与太阳模拟器形成指定的夹角；(3)太阳模拟器对星敏感器进行辐照；(4)星敏感器的探测器拍摄得到图像，利用所述图像的图像信噪比确定所述探测器受辐照后的损伤程度。本发明可以解决复杂光照环境照射星敏感器时，如何对星敏感器的探测器损伤程度进行测量的问题，还可以检测不同入射角度的光照对星敏感器探测器的损伤程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 敏感 探测器 强光 辐照 损伤 测试 方法 | ||
【主权项】：
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