[发明专利]一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法在审
| 申请号： | 201911252287.6 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN111174808A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 杨宵;余路伟;毛晓楠;张磊;吕进剑;徐亚娟;武斌;陆建;史哓;韩圣升 | 申请（专利权）人： | 上海航天控制技术研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 贾慧琴;周乃鑫 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 敏感 探测器 强光 辐照 损伤 测试 方法 | ||
1.一种星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，该方法利用太阳模拟器模拟光源，对星敏感器的探测器进行辐照，该方法包括以下步骤：
(1)对所述太阳模拟器的照度进行测量，以确定所述太阳模拟器的照度；
(2)使所述的星敏感器的光轴与太阳模拟器形成指定的夹角；
(3)太阳模拟器对星敏感器进行辐照；
(4)星敏感器的探测器拍摄得到图像，利用所述图像的图像信噪比确定所述探测器受辐照后的损伤程度。
2.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述太阳模拟器的照度通过微光成像测量系统进行测量。
3.根据权利要求2所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，照度测量时，所述的微光成像测量系统安装在四轴转台上，旋转所述的四轴转台，测量若干点位的太阳模拟器的照度，根据不同点位太阳模拟器照度综合计算得到太阳模拟器照度。
4.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，步骤(2)中，所述的星敏感器安装在四轴转台上，通过控制星敏感器转动的角度，以使所述的星敏感器的光轴与太阳模拟器形成指定的夹角。
5.根据权利要求3或4所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述的四轴转台由计算机控制。
6.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述的太阳模拟器为全光谱太阳模拟器。
7.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述的太阳模拟器发出的光束经过辐射测量系统和遮光罩后进入星敏感器的探测器，所述的辐射测量系统包括辐照光束整形系统和辐照光束调制系统。
8.根据权利要求1所述的星敏感器探测器受强光辐照损伤的测试方法，其特征在于，所述图像的图像信噪比大于4时，判断星敏感器的探测器未受损伤。
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