[发明专利]不具有单元阵列的集成电路芯片和裸片测试有效
| 申请号： | 201911251874.3 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN111402945B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 金支焕;吴相默 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;H01L23/48 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;周晓雨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种不具有单元阵列的集成电路芯片和裸片测试。集成电路芯片包括：第一穿通电极和第二穿通电极，它们穿通集成电路芯片而形成；传输电路，其适用于响应于选择信号而选择分别通过第一穿通电极和第二穿通电极传输的信号中的一者，并将选择的信号传输至数据线；以及选择信号生成电路，其适用于在测试操作期间通过触发选择信号来生成选择信号。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 单元 阵列 集成电路 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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