[发明专利]多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法有效
| 申请号： | 201911246213.1 | 申请日： | 2019-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN111079276B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 曾晨晖;孔祥雷;白春磊;张超逸;马岳轩;彭超 | 申请（专利权）人： | 华质卓越质量技术服务（北京）有限公司;中国航空综合技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/16;G06Q10/063;G06Q50/04;G06F119/14;G06F119/08;G06F119/04;G06F111/10 |
| 代理公司： | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人： | 韩燕 |
| 地址： | 101407 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，该方法通过建立加速因子矩阵，对矩阵进行分析运算，在综合考虑多失效模式以及多应力水平的情况下，确定最优的加速因子用以指导加速试验设计；在此基础上，通过建立加速试验载荷谱，综合利用加速因子、试验时间以及产品的可靠性指标，最终确定合理的试验时间用以验证给定的可靠性指标；相较于传统可靠性验证试验，该方法能够有效缩短试验时间，降低试验费用。 | ||
| 搜索关键词： | 失效 模式 电子产品 可靠性 指标 加速 验证 方法 | ||
【主权项】：
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