[发明专利]多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法

权利要求书

1.一种多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

步骤1、分析造成产品失效的主要失效模式及其失效机理；

步骤2、根据步骤1中的分析结果，进一步分析并选取所述产品的敏感环境应力，用以进行试验条件设计；

步骤3、根据步骤2中选取的敏感环境应力，选择合适的加速模型，以描述所述产品失效时间与所经历的应力之间的数学关系；

步骤4、确定步骤3中选择的加速模型的相关参数，并计算不同加速条件相对于所述产品常规使用条件下的加速因子；

步骤5、根据步骤4计算得到的加速因子，建立加速因子矩阵，所述矩阵的列表示加速试验的应力水平，所述矩阵的行表示不同的失效模式，矩阵中的每一个数值表示产品在所述应力水平和所述失效模式下的加速因子；所述加速因子矩阵表达式如下：

式中，A_fnr为各失效模式在各应力水平下的加速因子，n为失效模式，r为应力水平；

步骤6、对步骤5所述加速因子矩阵进行运算：

步骤61、按照标准偏差最小理论确定加速应力水平，计算各所述应力水平下所述加速因子的标准偏差，计算公式如下：

式中，1≤y≤r，σ_AF为加速因子标准偏差，A_fxy为各失效模式在各应力水平下的加速因子，n为失效模式总数，x为失效模式，y为应力水平；

取标准偏差最小的一组应力作为试验条件；

步骤62、对于步骤61选取的所述加速应力水平，根据竞争失效理论，所述产品的加速因子确定为所述应力水平下的加速因子最小值A_f：

A_f＝min{A_f1j,A_f2j,...,A_fnj,}

式中：A_f1j,A_f2j,…,A_fnj表示在应力水平j下，各失效模式的加速因子；

步骤7、建立加速试验载荷谱：

步骤71、加速试验载荷谱的描述公式如下：

式中：R_i为各应力作用下产品的可靠度；μ_{s_i}、μ_{L_i}均为试验时间；a和b分别为S和L均值标准差的偏差系数；

根据累积损伤模型，上式可简化为：

步骤72、根据给定数值的a和b，绘制系数k与各应力可靠度函数图；

步骤73、根据给定的可靠性指标，即可计算出相应的放大系数k；

步骤8、计算修正加速因子：Af′＝Af/k；

步骤9、计算加速试验时间，并设计加速验证试验：所述加速试验时间计算公式为：T_test＝MTBF/Af′，根据T_test的数值即可设计加速试验时间。

2.根据权利要求1所述的多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，其特征在于，所述步骤1中，采用FMMEA分析法，分析造成所述产品失效的失效模式及其失效机理。

3.根据权利要求1所述的多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，其特征在于，所述步骤4中，采用参数估计方法，确定加速模型的相关参数。

4.根据权利要求1所述的多失效模式下电子产品可靠性指标加速验证方法，其特征在于，所述步骤4中，利用相似产品数据，确定加速模型的相关参数。