[发明专利]测定ONU状态的方法、检测仪表及系统在审
| 申请号： | 201911230310.1 | 申请日： | 2019-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN112910548A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 孙策;何志敏 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071;H04B10/079;H04Q11/00 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供的测定ONU状态的方法、检测仪表及系统，通过应用程序APP检测模块控制检测仪表发起光时域反射仪OTDR测试；通过所述APP检测模块解析从待测光纤返回的第二光信号，获得所述待测光纤的实测数据；根据所述实测数据与工装数据的差值得到目标数据；再将所述目标数据按照预设判定逻辑确定ONU的状态，可实现包括但不限于的只需将待测光纤通过工装接入检测仪表，即可判定光纤对端ONU状态的技术效果，本发明实施例的方案达到了在测试过程中，不依赖OLT等其他设备设施，也无需敲门入户，即可精确测定ONU状态的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 onu 状态 方法 检测仪表 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911230310.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
