[发明专利]测定ONU状态的方法、检测仪表及系统在审

专利信息
申请号: 201911230310.1 申请日: 2019-12-04
公开(公告)号: CN112910548A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 孙策;何志敏 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B10/071 分类号: H04B10/071;H04B10/079;H04Q11/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 薛祥辉
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测定 onu 状态 方法 检测仪表 系统
【权利要求书】:

1.一种测定光网络单元ONU状态的方法,包括:

通过应用程序APP检测模块控制检测仪表发起光时域反射仪OTDR测试;

通过所述APP检测模块解析从待测光纤返回的第二光信号,获得所述待测光纤的实测数据;根据所述实测数据与工装数据的差值得到目标数据;再将所述目标数据按照预设判定逻辑确定ONU的状态。

2.如权利要求1所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,在所述通过所述APP检测模块解析从待测光纤返回的第二光信号,获得所述待测光纤的实测数据之前,包括:

通过所述APP检测模块解析从工装返回的第一光信号,获得所述工装数据。

3.如权利要求2所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,所述实测数据包括实测反射率和实测长度;所述工装数据包括工装反射率和工装长度;所述目标数据包括目标反射率和目标长度。

4.如权利要求1-3任一项所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,所述ONU的状态包括:第一断纤、第二断纤、第一开路、第二开路和在线。

5.如权利要求4所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,所述将所述目标数据按照预设判定逻辑确定ONU的状态包括以下步骤:

步骤一、判断所述目标长度是否小于长度阀值,若是,确定所述ONU的状态为所述第一断纤;反之,执行步骤二;

步骤二、判断所述目标反射率是否大于等于零,若是,确定所述ONU的状态为所述第一开路;反之,执行步骤三;

步骤三、判断所述目标反射率的绝对值是否小于判定区间中的最小数,若是,确定所述ONU的状态为所述第二开路;反之,执行步骤四;

步骤四、判断所述目标反射率的绝对值是否大于判定区间中的最大数,若是,确定所述ONU的状态为所述第二断纤;反之,确定所述ONU的状态为所述在线。

6.如权利要求5所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,在所述通过应用程序APP检测模块控制检测仪表发起光时域反射仪OTDR测试之前,包括:

预先设置所述长度阀值和所述判定区间。

7.如权利要求6所述的测定ONU状态的方法,其特征在于,所述方法包括:

通过所述APP检测模块的参数界面显示所述待测光纤的实测数据。

8.一种检测仪表,包括:APP检测模块;所述APP检测模块包括:

控制单元,用于控制所述检测仪表发起光时域反射仪OTDR测试;

解析单元,用于解析从待测光纤返回的第二光信号,获得所述待测光纤的实测数据;

计算单元,用于根据所述实测数据与工装数据的差值得到目标数据;

判断单元,用于将所述目标数据按照预设判定逻辑确定ONU的状态。

9.如权利要求8所述的检测仪表,其特征在于,

所述解析单元,还用于解析从工装返回的第一光信号,获得所述工装数据。

10.一种测定ONU状态的系统,包括:

检测仪表和工装;所述检测仪表与所述工装中的盘纤盒相连;所述工装中的衰减器与待测光纤相连;

所述检测仪表上的APP检测模块控制所述检测仪表发起OTDR测试;所述APP检测模块解析从所述待测光纤返回的第二光信号,获得所述待测光纤的实测数据;根据所述实测数据与工装数据的差值得到目标数据;再将所述目标数据按照预设判定逻辑确定ONU的状态。

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