[发明专利]一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统有效
| 申请号： | 201911216273.9 | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN111130545B | 公开（公告）日： | 2023-07-04 |
| 发明（设计）人： | 贾森;冯长磊;秦贺;李程;武昊男 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 李晶尧 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数模 混合 系统 dac adc 单元 回环 测试 | ||
【主权项】：
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