[发明专利]一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统

权利要求书

1.一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，其特征在于：包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；

上位机：生成数字低频测试信号；并将数字低频测试信号发送至DSP单元；接收DSP单元传来的对比结果，进行显示和存储；

DSP单元：接收上位机传来的数字低频测试信号；将数字低频测试信号烧写至Flash模块中；再次上电后，从Flash模块读取数字低频测试信号，将数字低频测试信号写入DDR2模块中；并从DDR2模块读取数字低频测试信号；将数字低频测试信号发送至数字上变频模块；接收数字下变频模块传来的数字低频回环信号，将数字低频回环信号发送至DDR2模块；接收DDR2模块传来的对比结果；将对比结果发送至上位机；

Flash模块：接收DSP单元传来的数字低频测试信号，存储；将数字低频测试信号发送至DSP单元；

DDR2模块：接收DSP单元写入的数字低频测试信号，存储；将数字低频测试信号发送至DSP单元；接收DSP单元传来的数字低频回环信号，将数字低频回环信号与数字低频测试信号进行对比；将对比结果发送至DSP单元；

数字上变频模块：接收DSP单元传来的数字低频测试信号，对数字低频测试信号进行上变频处理，将数字低频测试信号转换成数字高频信号，并将数字高频信号发送至DAC单元；

DAC单元：接收数字上变频模块传来的数字高频信号，进行数模转换处理，生成模拟高频信号，并将模拟高频信号发送至带通滤波模块；

带通滤波模块：接收DAC单元传来的模拟高频信号，对模拟高频信号依次进行隔离、滤波放大处理，生成模拟回环信号，并将模拟回环信号发送至ADC单元；

ADC单元：接收带通滤波模块传来的模拟回环信号，进行模数转换，生成数字回环信号，并将数字回环信号发送至数字下变频模块；

数字下变频模块：接收ADC单元传来的数字回环信号，对数字回环信号进行下变频处理，生成数字低频回环信号，并将数字低频回环信号发送至DSP单元。

2.根据权利要求1所述的一种基于数模混合微系统的信号回环测试系统，其特征在于：所述数字低频测试信号为线性调频LFM信号。

3.根据权利要求2所述的一种基于数模混合微系统的信号回环测试系统，其特征在于：所述数字上变频模块将数字低频测试信号转换成数字高频信号的同时，将低频采样率提高至系统要求的采样率。

4.根据权利要求3所述的一种基于数模混合微系统的信号回环测试系统，其特征在于：所述数字下变频模块采用数字混频处理将数字回环信号降频成数字低频回环信号，通过抽取、滤波完成信道提取任务。