[发明专利]一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置在审
| 申请号： | 201911211514.0 | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112986788A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 陈凝;马文远;李凯亮 | 申请（专利权）人： | 北京紫光青藤微系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五道*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置。所述电源干扰测试装置包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，数字集成电路测试仪包括可编程电源和数字通道，其中，可编程电源连接外围驱动电路，可编程电源连接数字通道，数字通道连接外围驱动电路，数字通道连接外部大容量SIM卡芯片的芯片测试管脚。本发明的电源干扰测试装置中，可编程电源向外围驱动电路提供工作电源，数字通道产生高频方波，并将高频方波输出到外围驱动电路的输入端，外围驱动电路产生高频扰动电源到达外部大容量SIM卡芯片的电源端，能够保证大容量SIM卡芯片在各种应用环境中的电源干扰，结构简单，成本低廉，操作性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 容量 sim 芯片 电源 干扰 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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