[发明专利]一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置

说明书

本发明提供了一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置。所述电源干扰测试装置包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，数字集成电路测试仪包括可编程电源和数字通道，其中，可编程电源连接外围驱动电路，可编程电源连接数字通道，数字通道连接外围驱动电路，数字通道连接外部大容量SIM卡芯片的芯片测试管脚。本发明的电源干扰测试装置中，可编程电源向外围驱动电路提供工作电源，数字通道产生高频方波，并将高频方波输出到外围驱动电路的输入端，外围驱动电路产生高频扰动电源到达外部大容量SIM卡芯片的电源端，能够保证大容量SIM卡芯片在各种应用环境中的电源干扰，结构简单，成本低廉，操作性强。

技术领域

本发明涉及SIM卡的集成电路设计技术领域，尤其涉及一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置。

背景技术

现在的移动手机存储容量从8G、16G升级到目前的128G、256G，甚至512G，但是，移动手机容量的增大必然带来手机内部物理结构上的变化，尤其移动手机存储芯片中的PCB板的重新设计、内存颗粒数上升，虽然移动手机容量的提升反映在单个移动手机的成本的具体数字上可能仅为几百元人民币，而考虑到电子类产品大规模生产，聚沙成塔便意味着移动手机成本的指数级上升。因此，大容量SIM卡作为首款应运而生的第五代SIM卡，除了SIM卡基本功能之外，SIM卡芯片变革性拓展出了兼具安全性的大容量存储功能，是解决移动手机存储容量的不二选择。

目前，市场上一般SIM卡芯片的存储容量不过512KB，大容量SIM卡芯片相比前一代SIM卡芯片，芯片容量呈几何倍级增大，大容量SIM卡芯片产品在使用过程中对电源的需求就会提高。为了满足大容量SIM卡芯片产品在测试过程中的电源毛刺影响的测试，需要一种在测试过程中快速产生高频噪声的测试环境和方法来测试验证产品在电源高频扰动下的能力；传统的电源干扰测试需要专门的电源干扰发生设备，成高且只能满足实验室环境下电源干扰实验，而大规模生产中，考虑的成本及数字集成电路测试仪的能力，很难形成量产测试。

现有SIM卡芯片的电源干扰测试装置，如图1所示，在大容量SIM卡芯片测试时，大容量SIM卡芯片电源连接数字集成电路测试仪中的可编程电源，可编程电源提供待测试芯片的电压，数字集成电路仪中的数字通道连接SIM卡芯片的芯片管脚上进行通信测试。如果SIM卡芯片通信功能正常，数字集成电路仪判定显示待测试芯片功能正常；如果SIM卡芯片通信功能异常，数字集成电路仪判定显示待测试芯片功能异常。但是，现有SIM卡芯片的电源干扰测试装置，因为集成电路测试仪的可编程电源上电下电时间都在5ms左右，无法在更短周期上电，所以，现有的电源干扰测试装置无法进行电源干扰测试。

发明内容

针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置，包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，产生高频扰动电源到达外部大容量SIM卡芯片的电源端，能够保证大容量SIM卡芯片在各种应用环境中的电源干扰。

为了达到上述技术目的，本发明所采用的技术方案是：

一种适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置，所述电源干扰测试装置包括数字集成电路测试仪和外围驱动电路，数字集成电路测试仪包括可编程电源和数字通道，其中，可编程电源连接外围驱动电路，可编程电源连接数字通道，数字通道连接外围驱动电路，数字通道连接外部大容量SIM卡芯片的芯片测试管脚；

可编程电源向外围驱动电路提供工作电源；

数字通道产生高频方波，并将高频方波输出到外围驱动电路的输入端；

外围驱动电路将接收到高频方波进行放大驱动，形成高频扰动电源到达其输出端，输出端连接外部大容量SIM卡芯片的电源端；外围驱动电路由运算放大驱动器构成，外围驱动电路的输入端连接数字通道，外围驱动电路的输出端连接外部大容量SIM卡芯片的电源端，外围驱动电路通过电源线连接可编程电源，外围驱动电路向外部大容量SIM卡芯片提供芯片电源；