[发明专利]一种提高自动测试覆盖率的方法、系统及电子设备在审

专利信息
申请号: 201911172907.5 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN111122973A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 曹明 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16;G06K9/62
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 翟磊
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种提高自动测试覆盖率的方法、系统及电子设备,首先采集第一预设数量的样本数据,并对其进行SVM模型映射后分析得到二值决策函数,并利用K折交叉验证法对对其进行训练得到多个二值SVM分类器,并根据所述二值SVM分类器作为二度非叶结点,所述二值决策函数分类结果作为叶结点,来构造二叉决策树,求叶结点最大值对应的种类即位分类结果,并将二叉决策树加入到自动测试程序中,在自动测试时,不需人工干预,就能实现对测试结果的自动分类,由此实现了一种利用人工智能提高自动测试覆盖率的方法。
搜索关键词: 一种 提高 自动 测试 覆盖率 方法 系统 电子设备
【主权项】:
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