[发明专利]一种X射线异物检测方法及其系统在审
| 申请号： | 201911165164.9 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN110954562A | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 朱鹏;孔庆水;王辉 | 申请（专利权）人： | 上海微现检测设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/083;G01V5/00;B07C5/346 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 杨用玲 |
| 地址： | 201108 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及异物检测技术领域，提供了一种X射线异物检测方法及其系统，包括步骤：将测试片图像插入所述X射线图像中，形成叠加图像，检测并定位所述叠加图像中的异物图像和/或测试片图像，剔除所述待检物中的待检产品和/或异物；将所述叠加图像与所述测试片图像进行对比，分析所述测试片异物检测灵敏度是否大于异物检测灵敏度阈值；当所述测试片异物检测灵敏度大于所述异物检测灵敏度阈值时，停止输送所述待检物的动作，停止剔除所述异物的动作。本发明避免生产人员忘记投入测试片，出现故障设备漏过含有异物的产品的问题，且避免了测试片污染生产线和产品的问题；无需购买大量的测试片，降低了加工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 异物 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
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