[发明专利]载波芯片测试系统有效
| 申请号： | 201911106024.4 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN110661583B | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 袁申明;刘德波;郭攀;李茂海;武占高;董理;胡歆 | 申请（专利权）人： | 青岛联众芯云科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/17 | 分类号： | H04B17/17;H04B17/29;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 | 代理人： | 田恩涛;柯宏达 |
| 地址： | 山东省青岛市胶东街*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种载波芯片测试系统，其包括：依次电信连接的测试夹具、测试从机和测试主机、至少分别与测试主机与测试从机通信连接的芯片测试主控机、产生测试指令和测试结果的芯片测试上位机；根据测试结果对载波芯片分类的自动化设备。本公开的载波芯片测试系统能够通过模拟载波芯片的实际应用电路来验证载波芯片的功能与性能，包括数据接口、电气性能、IO管脚以及载波通信能力等，检测可靠性强。 | ||
| 搜索关键词： | 载波 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种载波芯片测试系统，其特征在于：其包括：/n测试夹具，挟持所述载波芯片并与其电信连接；/n测试从机，与所述测试夹具电信连接；/n测试主机，与所述测试从机通信连接；/n芯片测试上位机，至少产生测试指令、良品测试结果和不良品测试结果；/n芯片测试主控机，至少分别与所述测试主机与所述测试从机通信连接，并且至少根据所述测试指令对所述载波芯片的性能测试进行控制；以及/n自动化设备，根据所述良品测试结果将所述载波芯片分类至良品料盘，根据所述不良品测试结果将所述载波芯片分类至不良品料盘。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于青岛联众芯云科技有限公司，未经青岛联众芯云科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911106024.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
