[发明专利]载波芯片测试系统

说明书

本公开提供了一种载波芯片测试系统，其包括：依次电信连接的测试夹具、测试从机和测试主机、至少分别与测试主机与测试从机通信连接的芯片测试主控机、产生测试指令和测试结果的芯片测试上位机；根据测试结果对载波芯片分类的自动化设备。本公开的载波芯片测试系统能够通过模拟载波芯片的实际应用电路来验证载波芯片的功能与性能，包括数据接口、电气性能、IO管脚以及载波通信能力等，检测可靠性强。

技术领域

本公开属于芯片测试领域，涉及一种载波芯片测试系统。

背景技术

载波通信芯片，例如HPLC载波芯片，在进行量产测试时需要测试数据接口、电气性能、IO管脚、载波通信能力等。进行上述性能测试一般要用到专用测试设备。这些专用测试设备造价昂贵。因此，亟需开发出一套完整独立的载波芯片测试系统，以降低成本。

发明内容

为了解决上述技术问题中的至少一个，本公开提供了一种载波芯片测试系统。该测试系统采用载波芯片的实际应用电路来验证载波芯片的功能与性能，主要用于测试载波芯片的数据接口、电气性能、IO管脚(包括输入管脚和输出管脚，I表示input，O表示output)以及载波通信能力等性能。本公开采用如下技术方案或其组合：

一种载波芯片测试系统，其包括：测试夹具、测试从机、测试主机、芯片测试上位机、芯片测试主控机、自动化设备等部件。

其中，测试夹具负责挟持载波芯片并与其电信连接。测试从机负责与测试夹具电信连接。测试主机负责与测试从机通信连接。芯片测试上位机至少产生测试指令、良品测试结果和不良品测试结果。芯片测试主控机负责至少分别与测试主机与测试从机通信连接，并且至少根据测试指令对载波芯片的性能测试进行控制。自动化设备根据良品测试结果将载波芯片分类至良品料盘，根据不良品测试结果将载波芯片分类至不良品料盘。

其中，在本公开的一些优选实施例中，载波芯片通过UART通信接口与测试夹具相连。测试指令包括UART通信接口测试指令。良品测试结果包括UART测试合格结果。当芯片测试上位机产生UART通信接口测试指令后，芯片测试主控机根据UART通信接口测试指令将UART测试信息发送至测试主机，测试主机将UART测试信息发送至测试从机，载波芯片通过UART通信接口从测试从机处收到UART测试信息并将其回传至测试从机，测试从机将回传的UART测试信息传输至芯片测试上位机，芯片测试上位机产生UART测试合格结果；当芯片测试上位机未收到回传的UART测试信息时产生不良品测试结果。

在本公开的一些优选实施例中，载波芯片通过SPI通信接口与测试夹具相连。测试指令包括SPI通信接口测试指令。良品测试结果包括SPI测试合格结果。当芯片测试上位机产生SPI通信接口测试指令后，芯片测试主控机根据SPI通信接口测试指令将内含的工作代码发送至测试从机，载波芯片通过SPI通信接口从测试从机处收到工作代码并将其回传至测试从机，测试从机将回传的工作代码传输至芯片测试上位机，芯片测试上位机产生SPI测试合格结果；当芯片测试上位机未收到回传的工作代码时产生不良品测试结果。

在本公开的一些优选实施例中，载波芯片测试系统包括：电源部分，给载波芯片供电。测试指令包括电压测试指令。良品测试结果包括电压测试合格结果。芯片测试上位机产生电压测试指令，芯片测试主控机根据电压测试指令采集载波芯片的电压值并发送给芯片测试上位机，芯片测试上位机判断电压值是否在预定电压范围内；当判断出在预定电压范围内时，产生电压测试合格结果；当判断出不在预定电压范围内时，产生不良品测试结果。

在本公开的一些优选实施例中，测试指令包括功耗测试指令；良品测试结果包括功耗测试合格结果；芯片测试上位机产生功耗测试指令，芯片测试主控机根据功耗测试指令对载波芯片的电流进行采样，计算出电流值并换算为功率值，然后发送给芯片测试上位机，芯片测试上位机判断功率值是否在预定功率范围内；当判断出在预定功率范围内时，产生功耗测试合格结果；当判断出不在预定功率范围内时，产生不良品测试结果。