[发明专利]集成电路芯片的检测系统和方法有效

专利信息
申请号: 201911104632.1 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN110763981B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 许小军 申请(专利权)人: 苏州华兴源创科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种集成电路芯片的检测系统和方法,该检测系统包括:为待测芯片的待测引脚提供测试信号的驱动源;根据待测引脚的类型选择驱动源的驱动源选择模块;用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源,并对待测芯片的其他引脚进行接地处理的引脚选择模块;用于采集待测引脚上的反馈信号,并对该待测引脚进行限压处理的电压采集与限压模块;及控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作,并接收反馈信号以判断待测引脚的状态的处理模块。本发明可以快速检测出集成电路芯片的引脚状态,对带开路或短路引脚的芯片进行快速拦截,防止其流入下一道工序,提高芯片制造厂家的良品率,节省生产成本并保证了芯片的出厂质量。
搜索关键词: 集成电路 芯片 检测 系统 方法
【主权项】:
1.一种集成电路芯片的检测系统,其特征在于,包括:/n驱动源,为待测芯片的待测引脚提供测试信号;/n驱动源选择模块,设置在驱动源与待测芯片之间,以根据待测引脚的类型选择驱动源,/n引脚选择模块,设置在驱动源选择模块与待测芯片之间,用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源,并对待测芯片的其他引脚进行接地处理;/n电压采集与限压模块,分别连接至所述驱动源和待测芯片,以采集待测引脚上的反馈信号,并对该待测引脚进行限压处理;/n处理模块,分别与所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块连接,并控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作,接收反馈信号以判断待测引脚的状态。/n
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