[发明专利]用于测试电子部件的分选机

摘要

本发明公开一种用于测试电子部件的分选机。用于测试所述电子部件的所示分选机包括：冷却袋，其安置于连接部件的推动头上，所述连接部件将所述电子部件电连接至测试器的测试插座；以及流体供应器，其用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部。本发明的所述分选机增强测试中的可靠性，因为所述分选机可由于供应至所述冷却袋内部的所述冷却流体而维持测试所述电子部件所需要的温度。

主权项

1.一种用于测试电子部件的分选机，其包含：/n供应部件，其用于供应电子部件；/n连接部件，其用于将由所述供应部件供应的电子部件电连接至一测试器的测试插座；/n调节部件，其用于调节由所述连接部件电连接至所述测试插座的所述电子部件的温度；/n回收部件，其用于回收由所述测试器完成测试的电子部件；以及/n控制部件，其用于控制所述供应部件、连接部件、调节部件及回收部件，/n其中，所述连接部件包含：/n推动头，其用于朝所述测试插座按压电子部件；以及移动体，其用于朝所述测试插座向前或自所述测试插座向后移动所述推动头，/n其中，所述推动头包含：/n推动器，其用于朝所述测试插座按压所述电子部件；以及冷却袋，其抵接于所述推动器上且由所述调节部件供应的冷却流体通过所述冷却袋，且/n其中，所述调节部件包含流体供应器，所述流体供应器用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部，/n其中，所述连接部件还包含插座引导器，所述插座引导器具有用于引导所述推动器的准确位置引导销，/n其中，所述推动器包含：/n热电组件，当测试过程中若由于电子部件的自身发热而使电子部件的温度上升，则为了控制电子部件的温度而设置于所述推动器；/n金属主体，一侧由按压部件形成，而另一侧的一部分与所述冷却袋的一部分接触，并形成有用于接收所述热电组件的接收槽；以及/n引导构件，由热容量小于所述按压部件的材料制成，从而最小化所述金属主体的热容量，并形成有插入所述引导销的引导孔。/n