[发明专利]一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法在审

专利信息
申请号: 201910992143.8 申请日: 2019-10-18
公开(公告)号: CN110672045A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 胡明哲;李立;霍玲玲 申请(专利权)人: 贵州民族大学
主分类号: G01B15/06 分类号: G01B15/06
代理公司: 11212 北京轻创知识产权代理有限公司 代理人: 翟磊
地址: 550025 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明涉及一种结构形变检测传感器及检测系统与检测方法,属于结构形变检测领域。本结构形变检测传感器,包括:第一固定座,所述第一固定座上设有第一介质基板,所述第一介质基板的一端设有第一微带电路;第二固定座,所述第二固定座与所述第一固定座平行设置,所述第二固定座上设有第二介质基板,所述第二介质基板的一端设有第二微带电路,所述第二微带电路朝向所述第一微带电路,所述第一微带电路与所述第二微带电路之间留有互感耦合缝隙。本结构形变检测传感器的效果是能够简单方便快速的检测结构微小形变,检测准确度高,检测成本低,消耗的能源低,同时利于进行检测操作。
搜索关键词: 微带电路 固定座 检测 结构形变 介质基板 传感器 互感耦合 检测操作 检测领域 检测系统 平行设置 微小形变 准确度 消耗 能源
【主权项】:
1.一种结构形变检测传感器,其特征在于,包括:/n第一固定座(1),所述第一固定座(1)上设有第一介质基板(3),所述第一介质基板(3)的一端设有第一微带电路(4);/n第二固定座(5),所述第二固定座(5)与所述第一固定座(1)平行设置,所述第二固定座(5)上设有第二介质基板(6),所述第二介质基板(6)的一端设有第二微带电路(7),所述第二微带电路(7)朝向所述第一微带电路(4),所述第一微带电路(4)与所述第二微带电路(7)之间留有互感耦合缝隙。/n
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