[发明专利]一种多角度测量纳米粒度的检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 201910939923.6 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN110672477A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 曾海波;蒋连福 | 申请（专利权）人： | 南京牧科纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 32360 南京泰普专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 姜露露 |
| 地址： | 211100 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多角度测量纳米粒度的检测装置及其检测方法，属于纳米粒度检测领域。其中，多角度测量纳米粒度的检测装置包括激光发射器、透镜、样品池、探测器以及计算器以及转动机构，其中转动机构包括转动部和静止部，随着转动部与静止部的相对转动，激光发射器照射样品池的角度发生变化，探测器检测的散射光的角度也发生变化，即探测器可以检测不同散射角的散射光强。与现有技术相比，本发明提供的多角度测量纳米粒度的检测装置，通过改变激光照射样品池的角度来检测不同散射角度下光强变化从而实现纳米粒度的检测，降低因照射角度的不同以及散射角度不同对检测结果的影响，提高纳米粒度的检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米粒度 多角度测量 检测装置 样品池 检测 激光发射器 转动机构 静止部 散射 探测器 转动 照射 透镜 探测器检测 光强变化 激光照射 检测结果 检测领域 散射光强 计算器 散射光 散射角 | ||
【主权项】：
1.一种多角度测量纳米粒度的检测装置，包括：激光发射器、透镜、样品池、探测器以及计算器，其特征在于，所述检测装置还包括转动机构，所述转动机构包括转动部和静止部，所述激光发射器和透镜设于转动部上，所述样品池以及探测器设于静止部上，所述转动部可沿固定轴线相对于静止部转动，所述透镜位于激光发射器以及样品池之间，所述样品池设于透镜和探测器之间；/n所述计算器包括用于建立颗粒散射光强自相关函数的第一模块、用于计算纳米颗粒的扩散速率的第二模块以及计算纳米粒度的第三模块，所述计算器与探测器通讯连接。/n
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