[发明专利]一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法

摘要

本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件，传输装置一包括电磁铁一、伸缩件一以及传输组件一，凸面检测装置包括检测座一、若干个触压开关一以及若干个探针一。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二，凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二，定位装置包括测距传感器二和测距传感器三。本发明实现了对磁瓦的凹凸面的缺陷检查，提高缺陷的检查效果，可以降低劳动强度，保护工人的眼睛，而且提高缺陷检查的效率和误检率。

主权项

1.一种磁瓦表面缺陷检查系统，其包括：/n壳体(1)；/n其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统还包括：/n夹紧装置，其包括固定挡板(2)、移动挡板(3)、定位组件(4)、测距传感器一(5)以及驱动组件；固定挡板(2)的底端固定在壳体(1)上；移动挡板(3)的底端活动安装在壳体(1)上，并能够相对固定挡板(2)移动，以产生供至少一个磁瓦(34)放置的至少一个夹紧空间；定位组件(4)安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间，并用于将磁瓦(34)定位在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间；测距传感器一(5)用于检测固定挡板(2)和移动挡板(3)之间的距离；所述驱动组件用于驱使移动挡板(3)向固定挡板(2)移动；/n传输装置一，其包括电磁铁一(6)、伸缩件一(7)以及传输组件一；电磁铁一(6)的底端为凸面端，且所述凸面端能够与磁瓦(34)的凹面相贴合；伸缩件一(7)的伸缩端固定在电磁铁一(6)的顶端上；所述传输组件一安装在壳体(1)上，并用于将伸缩件一(7)在所述夹紧装置的上方移动且移动方向与移动挡板(3)的移动方向平行；/n凸面检测装置，其包括检测座一(8)、若干个触压开关一以及分别与若干个触压开关一对应的若干个探针一(9)；检测座一(8)安装在壳体(1)上，且顶端具有弯曲度与磁瓦(34)的凸面的弯曲度相同的弧形凹面；若干个触压开关一均安装在检测座一(8)中，并沿着所述弧形凹面的弯曲方向均匀分布；每个探针一(9)的底端抵在对应的触压开关一上，且活动安装在检测座一(8)上；所有探针一(9)的顶端穿过所述弧形凹面，并形成能够与磁瓦(34)的凸面相贴合的检测曲面一；/n传输装置二，其包括电磁铁二(10)、伸缩件二(11)以及传输组件二；电磁铁二(10)的顶端为凹面端，且所述凹面端能够与磁瓦(34)的凸面相贴合；伸缩件二(11)的伸缩端固定在电磁铁二(10)的底端上；所述传输组件二安装在壳体(1)上，并用于将伸缩件二(11)在所述传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一(7)的移动方向平行；/n凹面检测装置，其包括检测座二(12)、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二(13)；检测座二(12)安装在壳体(1)上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦(34)的凹面的弯曲度相同的弧形凸面；检测座二(12)与检测座一(8)之间的距离大于磁瓦(34)的弦长；若干个触压开关二均安装在检测座二(12)上，并沿着所述弧形凸面的弯曲方向均匀分布；每个探针二(13)的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二(13)活动安装在检测座二(12)上；所有探针二(13)的底端穿过所述弧形凸面，并形成能够与磁瓦(34)的凹面相贴合的检测曲面二；/n定位装置，其包括测距传感器二(14)和测距传感器三(15)；测距传感器二(14)安装在壳体(1)上，并用于检测伸缩件一(7)与壳体(1)靠近所述夹紧装置的内壁的距离；测距传感器三(15)安装在壳体(1)上，并用于检测伸缩件二(11)与壳体(1)靠近所述凹面检测装置的内壁的距离；/n控制器，其用于判断测距传感器一(5)检测的距离是否大于所述弦长，是则通过所述驱动组件驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)靠近直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长，否则驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)远离直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长；所述控制器还执行以下步骤：/n步骤S1，判断测距传感器二(14)检测的距离是否等于一个预设距离一；在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一时，伸缩件一(7)的中心线穿过至位于定位组件(4)上的磁瓦(34)的中心；/n在测距传感器二(14)检测的距离不等于所述预设距离一时，执行步骤S2，通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动，直至测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一；/n在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一时，执行步骤S3，先驱使伸缩件一(7)伸出，再启动电磁铁一(6)以吸附位于定位组件(4)上的磁瓦(34)，最后驱使伸缩件一(7)收缩；/n步骤S4，通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动，直至测距传感器二(14)检测的距离等于一个预设距离二；在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离二时，伸缩件一(7)的中心线穿过至所述检测曲面一的中心；/n步骤S5，先驱使伸缩件一(7)伸出，使磁瓦(34)抵在所述检测曲面一上，再驱使伸缩件一(7)收缩；其中，在所有探针一(9)均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦(34)的凸面不存在缺陷，在部分探针一(9)提前触发对应的触压开关一或者延后触发对应的触压开关一时，判定磁瓦(34)的凸面存在缺陷；/n步骤S6，通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动，直至测距传感器二(14)检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三时，吸附在电磁铁一(6)的磁瓦(34)位于检测座二(12)与检测座一(8)之间的空间的上方；/n步骤S7，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三且测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离四时，伸缩件一(7)、伸缩件二(11)的中心线重合；/n步骤S8，先驱使伸缩件二(11)伸出直至电磁铁二(10)抵在磁瓦(34)上，再关闭电磁铁一(6)并启动电磁铁二(10)，最后驱使伸缩件二(11)收缩；/n步骤S9，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离五时，伸缩件二(11)的中心线穿过所述检测曲面二的中心；/n步骤S10，先驱使伸缩件二(11)伸出，使磁瓦(34)抵在所述检测曲面二上，再驱使伸缩件二(11)收缩；其中，在所有探针二(13)均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦(34)的凹面不存在缺陷，在部分探针二(13)提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦(34)的凹面存在缺陷；/n步骤S11，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离六；所述预设距离六小于所述预设距离五。/n