[发明专利]一种目标辐射率测量方法及装置有效
申请号: | 201910917257.6 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN110617887B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 胡飞;苏金龙;伍宏飞 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10;G01J5/52 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种目标辐射率测量方法及装置,方法包括:将板状吸波材料一端固定、另一端绕该端旋转,调整辐射计天线口面中轴线与吸波材料表面间的夹角,测得吸波材料辐射电压;将金属和待测目标先后设置在吸波材料表面相同位置,测得一一对应的辐射电压;将吸波材料作为环境背景对三个辐射电压差值分析,得到待测目标的辐射率;其中吸波材料辐射率为0.999~1,金属和待测目标表面积相等且不大于吸波材料。本发明在测量时吸波材料不动,将金属和待测目标先后放在吸波材料相同位置得三者辐射电压,操作简单。另外吸波材料辐射率近乎1,但这会导致吸波材料较厚,将吸波材料作为环境背景进行差值分析,可完全消除厚度对测量带来的误差,极大提高测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 目标 辐射 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种目标辐射率测量方法,其特征在于,包括:/n将板状吸波材料一端固定、另一端绕该端旋转,以调整辐射计的天线口面中轴线与所述板状吸波材料表面之间的夹角,测得所述板状吸波材料的辐射电压;/n将片状金属和片状待测目标先后设置在所述板状吸波材料表面的相同位置,测得一一对应的辐射电压;/n将所述板状吸波材料作为环境背景,对三个所述辐射电压进行差值计算,得到所述片状待测目标的辐射率;/n其中,所述板状吸波材料的辐射率为0.999~1,所述片状金属和所述片状待测目标的表面积相等且不大于所述板状吸波材料表面积。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910917257.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。