[发明专利]一种目标辐射率测量方法及装置

权利要求书

1.一种目标辐射率测量方法，其特征在于，包括：

将板状吸波材料一端固定、另一端绕该端旋转，以调整辐射计的天线口面中轴线与所述板状吸波材料表面之间的夹角，测得所述板状吸波材料的辐射电压；

将片状金属和片状待测目标先后设置在所述板状吸波材料表面的相同位置，测得一一对应的辐射电压；

将所述板状吸波材料作为环境背景，对三个所述辐射电压进行差值计算，得到所述片状待测目标的辐射率；

其中，所述板状吸波材料的辐射率为0.999～1，所述片状金属和所述片状待测目标的表面积相等且小于所述板状吸波材料表面积；所述辐射计的主波束在所述板状吸波材料表面的投射面积至少完全覆盖所述片状金属或所述片状待测目标；

所述差值计算的表达式为：

式中，V_AP、e为所述片状待测目标的辐射电压和辐射率，V_APr、e_r为所述片状金属的辐射电压和辐射率，V_APb、e_b为所述板状吸波材料的辐射电压和辐射率。

2.根据权利要求1所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述板状吸波材料一端的固定平面与所述天线口面的中轴线平行。

3.根据权利要求1所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述辐射计的天线口面的中轴线经过所述片状金属和所述片状待测目标的中心位置。

4.根据权利要求1所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述板状吸波材料、所述片状金属和所述片状待测目标的物理温度等同，实现方法为：将所述板状吸波材料、所述片状金属和所述片状待测目标设置在相同温度环境下。

5.根据权利要求1所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述板状吸波材料为角锥泡沫，厚度为厘米级。

6.根据权利要求1所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述片状金属和所述片状待测目标的厚度为毫米级或其以下。

7.根据权利要求1至6任一项所述的一种目标辐射率测量方法，其特征在于，所述片状金属的辐射率取值为0，所述板状吸波材料的辐射率取值为1。

8.一种目标辐射率测量装置，其特征在于，包括：固定件，处理器，以及如权利要求1至7任一项所述的一种目标辐射率测量方法中的辐射计、与所述辐射计间隔设置的板状吸波材料、片状金属；

所述固定件用于先后将所述片状金属和片状待测目标固定在所述板状吸波材料的表面；所述处理器用于基于所述辐射计测得的三个辐射电压进行如权利要求1至7任一项所述的一种目标辐射率测量方法中的差值分析，得到所述片状待测目标的辐射率。