[发明专利]激光薄膜内耗仪及材料内耗的检测方法在审
申请号: | 201910914773.3 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN110567877A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 刘向兵;李远飞;薛飞;王春辉;徐超亮;钱王洁;贾文清;李心刚;池志远;安英辉;段德洪 | 申请(专利权)人: | 苏州热工研究院有限公司;岭澳核电有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 32103 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 汪青 |
地址: | 215004 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种激光薄膜内耗仪,包括激光位移传感器、底板、固定在所述底板上的下罩体以及与所述下罩体相配合的上罩体,所述底板、下罩体和上罩体之间形成腔体,所述腔体内设置有试样固定组件、激发电极、加热器以及屏蔽罩,所述下罩体上开设有与所述激光位移传感器对应的光学窗口,所述加热器位于所述屏蔽罩内,所述屏蔽罩用于罩住所述试样以及激发电极,所述屏蔽罩对应所述激光位移传感器开设有贯通孔,所述激发电极朝向所述贯通孔,所述试样位于所述贯通孔与激发电极之间。本发明的激光薄膜内耗仪,具有测量精度高、工作频率宽、非接触测量获得材料缺陷信息等优点,非常适合进行辐照缺陷的表征。 | ||
搜索关键词: | 激发电极 屏蔽罩 下罩体 激光位移传感器 底板 贯通孔 加热器 激光薄膜 上罩体 测量精度高 非接触测量 材料缺陷 辐照缺陷 工作频率 固定组件 光学窗口 腔体 体内 配合 | ||
【主权项】:
1.一种激光薄膜内耗仪,其特征在于,包括激光位移传感器、底板、固定在所述底板上的下罩体以及与所述下罩体相配合的上罩体,所述底板、下罩体和上罩体之间形成腔体,所述腔体内设置有试样固定组件、激发电极、加热器以及屏蔽罩,所述下罩体上开设有与所述激光位移传感器对应的光学窗口,所述加热器位于所述屏蔽罩内,所述屏蔽罩用于罩住所述试样以及激发电极,所述屏蔽罩对应所述激光位移传感器开设有贯通孔,所述激发电极朝向所述贯通孔,所述试样位于所述贯通孔与激发电极之间。/n
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