[发明专利]探测器质量控制效验方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910900705.1 | 申请日： | 2019-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN110584698B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 冯涛;胡凌志;何鎏春 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 何晓春 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种探测器质量控制效验方法、装置、计算机设备和存储介质。获取背景辐射符合事件数据、待扫描物体含飞行时间信息的实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图；根据实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，确定目标响应线的时间偏移；根据每条目标响应线的时间偏移，得到目标响应线对应的每个晶体的时间偏移；根据每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据检验参数对探测器进行质量控制。本方法不需要模体、额外的放射源以及操作工程师，直接利用待检测物体的临床扫描数据计算晶体的时间偏移，再根据晶体的时间偏移对探测器进行质量控制，节省了成本以及人力资源，并且质量控制的进度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 探测器 质量 控制 效验 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种探测器质量控制效验方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取背景辐射符合事件数据、待扫描物体含飞行时间信息的实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图；/n根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，确定目标响应线的时间偏移；/n根据每条所述目标响应线的时间偏移，得到所述目标响应线对应的每个晶体的时间偏移；/n根据所述每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据所述检验参数对探测器进行质量控制。/n
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