[发明专利]探测器质量控制效验方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种探测器质量控制效验方法，其特征在于，所述方法包括：

获取背景辐射符合事件数据、待扫描物体含飞行时间信息的实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图；

根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，确定目标响应线的时间偏移；

根据每条所述目标响应线的时间偏移，得到所述目标响应线对应的每个晶体的时间偏移；

根据所述每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据所述检验参数对探测器进行质量控制。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，确定目标响应线的时间偏移：

根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，得到估计符合事件数据；

根据实测符合事件数据以及估计符合事件数据，得到目标响应线的时间偏移。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，得到估计符合事件数据包括：

根据所述实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图进行蒙特卡罗模拟，得到估计散射符合事件数据以及估计随机符合事件数据；

根据非飞行时间重建图像以及飞行时间投影矩阵，得到估计真实符合事件数据；

根据估计散射符合事件数据、估计随机符合事件数据以及估计真实符合事件数据，得到估计符合事件数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据实测符合事件数据以及估计符合事件数据，得到每条响应线的时间偏移包括：

根据实测符合事件数据得到实测带飞行时间信息的符合计数弦图；

根据估计符合事件数据得到估计带飞行时间信息的符合计数弦图；

根据实测带飞行时间信息的符合计数弦图以及估计带飞行时间信息的符合计数弦图，得到目标响应线的时间偏移。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每条所述目标响应线的时间偏移，得到所述目标响应线对应的每个晶体的时间偏移包括：

获取响应线的飞行时间偏移与晶体的时间偏移之间的变换关系；

基于所述目标响应线的飞行时间偏移及所述变换关系，得到晶体的时间偏移。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数包括：

根据响应线的时间偏移以及相应响应线上两晶体的时间偏移，获取两晶体之间的距离；

根据响应线上两晶体的时间偏移、两晶体之间的距离以及光速，得到同一响应线两晶体之间的时间差；

根据所述时间差以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据所述检验参数对当前晶体的时间偏移进行质量控制。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述时间差以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据所述检验参数对当前晶体的时间偏移进行质量控制包括：

所述背景辐射符合事件数据的每条响应线是以两晶体之间的时间差为平均数，时间分辨率为方差的高斯分布，获取方差值；

根据两晶体之间的时间差、方差值以及背景辐射符合事件数据，得到检验参数；

若所述检验参数大于预设阈值，则根据当前晶体的时间偏移进行质量控制。

8.一种探测器质量控制效验装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，获取背景辐射符合事件数据、待扫描物体含飞行时间信息的实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图；

响应线时间偏移计算模块，用于根据所述实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像，确定目标响应线的时间偏移；

晶体时间偏移计算模块，用于根据每条所述目标响应线的时间偏移，得到所述目标响应线对应的每个晶体的时间偏移；

质量控制效验模块，用于根据所述每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数，并根据所述检验参数对探测器进行质量控制。