[发明专利]一种栅控PIN结构GaN紫外探测器及其制备方法有效
申请号: | 201910899567.X | 申请日: | 2019-09-23 |
公开(公告)号: | CN110660882B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 仇志军;叶怀宇;张国旗 | 申请(专利权)人: | 深圳第三代半导体研究院 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/113;H01L31/105;H01L31/0224 |
代理公司: | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人: | 阎冬;李明 |
地址: | 518055 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种栅控PIN结构GaN紫外探测器及其制备方法,包括:1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;2)n型掺杂GaN层上生长本征掺杂GaN层;3)本征掺杂GaN层上生长p型掺杂AlGaN层;4)选择性刻蚀外延层材料形成刻蚀台面和双台阶;5)在台面和双台阶上淀积钝化层;6)刻蚀钝化层形成电极孔,并沉积金属电极。本发明是基于PIN结构,因此能够实现快速、准确、高灵敏度的紫外光探测;其次,通过侧栅结构施加的电压能够抑制或消除AlGaN/GaN异质界面处的二维电子气的影响,形成理想型的PIN结构探测器,可以提高探测器的响应速度、探测率、灵敏度等性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 pin 结构 gan 紫外 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种新型栅控PIN结构GaN紫外探测器制备方法,其特征在于:包括/n1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;/n2)所述n型掺杂GaN层上生长本征掺杂GaN层;/n3)所述本征掺杂GaN层上生长p型掺杂AlGaN层;/n4)刻蚀所述本征掺杂GaN层和p型掺杂AlGaN层形成第一台阶和第二台阶;/n5)在所述第一台阶和所述第二台阶表面沉积钝化层;/n6)刻蚀所述p型掺杂AlGaN层上和所述n型掺杂GaN层上的钝化层形成源极孔和漏极孔;/n7)在所述源极孔和漏极孔分别沉积源电极和漏电极;/n8)在所述本征掺杂GaN层的侧面钝化层上沉积栅电极。/n
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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