[发明专利]一种栅控PIN结构GaN紫外探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910899567.X 申请日: 2019-09-23
公开(公告)号: CN110660882B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 仇志军;叶怀宇;张国旗 申请(专利权)人: 深圳第三代半导体研究院
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/113;H01L31/105;H01L31/0224
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 代理人: 阎冬;李明
地址: 518055 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种栅控PIN结构GaN紫外探测器及其制备方法,包括:1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;2)n型掺杂GaN层上生长本征掺杂GaN层;3)本征掺杂GaN层上生长p型掺杂AlGaN层;4)选择性刻蚀外延层材料形成刻蚀台面和双台阶;5)在台面和双台阶上淀积钝化层;6)刻蚀钝化层形成电极孔,并沉积金属电极。本发明是基于PIN结构,因此能够实现快速、准确、高灵敏度的紫外光探测;其次,通过侧栅结构施加的电压能够抑制或消除AlGaN/GaN异质界面处的二维电子气的影响,形成理想型的PIN结构探测器,可以提高探测器的响应速度、探测率、灵敏度等性能。
搜索关键词: 一种 pin 结构 gan 紫外 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种新型栅控PIN结构GaN紫外探测器制备方法,其特征在于:包括/n1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;/n2)所述n型掺杂GaN层上生长本征掺杂GaN层;/n3)所述本征掺杂GaN层上生长p型掺杂AlGaN层;/n4)刻蚀所述本征掺杂GaN层和p型掺杂AlGaN层形成第一台阶和第二台阶;/n5)在所述第一台阶和所述第二台阶表面沉积钝化层;/n6)刻蚀所述p型掺杂AlGaN层上和所述n型掺杂GaN层上的钝化层形成源极孔和漏极孔;/n7)在所述源极孔和漏极孔分别沉积源电极和漏电极;/n8)在所述本征掺杂GaN层的侧面钝化层上沉积栅电极。/n
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