[发明专利]一种TEC制冷性能的测量方法及测量装置在审
| 申请号： | 201910870668.4 | 申请日： | 2019-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN110456250A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 陈杰;王坚;张鸿飞;张军;陈金挺;陈诚 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 潘颖<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 230026安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种TEC制冷性能的测量方法及测量装置，通过该测量方法及测量装置，能够精确的对待测TEC的热端温度、冷端温度、工作电流、工作电压和制冷功率这些制冷性能数据进行测量，进而能够准确的进行光电探测器等器件的TEC制冷系统的设计。 | ||
| 搜索关键词： | 测量装置 制冷性能 测量 光电探测器 工作电流 工作电压 制冷功率 制冷系统 冷端 热端 | ||
【主权项】：
1.一种TEC制冷性能的测量方法，其特征在于，由发热体控制待测TEC的冷端的温度，且由温控TEC控制所述待测TEC的热端的温度，其中，所述发热体在每次工作电流发生步进或热端温度发生步进时初始发热功率为零，所述测量方法包括：/nS1、获取所述待测TEC的热端的热端温度，并判断所述热端温度是否处于预设热端温度扫描区间内，若是，则进入步骤S2；若否，则测量结束；/nS2、判断所述待测TEC的工作电流是否不大于预设电流限值，若是，则进入步骤S3；若否，则通过所述温控TEC控制所述待测TEC的热端温度增加步进温度后重置工作电流，进入所述步骤S1进行下一次测量；/nS3、调节所述发热体的发热功率增加一次步进功率；/nS4、判断所述待测TEC的冷端的冷端温度是否不大于其热端温度，若是，则进入步骤S5；若否，则控制所述待测TEC的工作电流增加步进电流后，进入所述步骤S2重新与所述预设电流限值进行判断；/nS5、判断所述待测TEC当前的冷端温度和热端温度是否稳定，若是，则记录本次测量所述待测TEC的制冷性能数据，所述制冷性能数据包括所述待测TEC的当前热端温度、当前冷端温度、当前工作电流、当前工作电压和当前制冷功率；若否，则重新进入所述步骤S4进行判断。/n
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