[发明专利]基于电子自旋反射对消的磁场检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910850550.5 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110646750A 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 秦杰;孙晓光;万双爱;庞喜浪 申请(专利权)人: 北京自动化控制设备研究所
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032;G01R33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及磁场检测技术领域,公开了一种基于电子自旋反射对消的磁场检测系统及方法。其中,该系统包括:检测光源,用于产生检测光;偏振反射棱镜,用于对入射的检测光进行起偏;原子气室,原子气室内充有用于敏感角速率的介质;三维线圈,原子气室设置在三维线圈中心位置,三维线圈用于产生磁场;驱动光源,用于产生驱动光,使原子气室中的原子指向同一方向;反射镜,用于将经过原子气室的起偏后的检测光再经原子气室反射回偏振反射棱镜进行检偏;探测器,用于探测经偏振反射棱镜检偏的检测光;信号处理装置,与探测器连接,用于根据探测到的光确定磁场。由此,可以提高原子磁强计检测系统的准确度和稳定性,保证原子磁强计磁场测量的稳定性。
搜索关键词: 原子气室 检测光 偏振反射 棱镜 三维 原子磁强计 检偏 反射 磁场 探测 磁场检测系统 线圈中心位置 信号处理装置 探测器连接 准确度 磁场测量 磁场检测 电子自旋 检测光源 检测系统 驱动光源 同一方向 反射镜 探测器 对消 入射 指向 室内 驱动 敏感 保证
【主权项】:
1.一种基于电子自旋反射对消的磁场检测系统,其特征在于,该系统包括:/n检测光源,用于产生检测光;/n偏振反射棱镜,用于对入射的检测光进行起偏;/n原子气室,所述原子气室内充有用于敏感角速率的介质;/n三维线圈,所述原子气室设置在所述三维线圈中心位置,所述三维线圈用于产生磁场;/n驱动光源,用于产生驱动光,使所述原子气室中的原子指向同一方向;/n反射镜,用于将经过所述原子气室的起偏后的检测光再经所述原子气室反射回所述偏振反射棱镜进行检偏;/n探测器,用于探测经所述偏振反射棱镜检偏的检测光;/n信号处理装置,与所述探测器连接,用于根据探测到的光确定磁场。/n
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