[发明专利]基于电子自旋反射对消的磁场检测系统及方法

权利要求书

1.一种基于电子自旋反射对消的磁场检测系统，其特征在于，该系统包括：

检测光源，用于产生检测光；

偏振反射棱镜，用于对入射的检测光进行起偏；

原子气室，所述原子气室内充有用于敏感角速率的介质；

三维线圈，所述原子气室设置在所述三维线圈中心位置，所述三维线圈用于产生磁场；

驱动光源，用于产生驱动光，使所述原子气室中的原子指向同一方向；

反射镜，用于将经过所述原子气室的起偏后的检测光再经所述原子气室反射回所述偏振反射棱镜进行检偏；

探测器，用于探测经所述偏振反射棱镜检偏的检测光；

信号处理装置，与所述探测器连接，用于根据探测到的光确定磁场。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号处理装置根据探测到的光确定磁场包括：

基于探测到的光和预先标定的标度因数确定磁场。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述探测器为光电探测器。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述检测光源和驱动光源均为激光源。

5.一种基于电子自旋反射对消的磁场检测方法，其特征在于，该方法包括：

检测光源产生检测光并入射至偏振反射棱镜；

所述偏振反射棱镜对入射的检测光进行起偏，起偏后的检测光经原子气室到达反射镜，其中，所述原子气室内充有用于敏感角速率的介质，所述原子气室设置在产生磁场的三维线圈中心位置，驱动光源产生驱动光使所述原子气室中的原子指向同一方向；

所述反射镜将经过所述原子气室的起偏后的检测光再经所述原子气室反射回所述偏振反射棱镜；

所述偏振反射棱镜对反射回来的检测光进行检偏；

探测器探测经所述偏振反射棱镜检偏的检测光；

信号处理装置根据探测到的光确定磁场。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据探测到的光确定磁场包括：基于探测到的光和预先标定的标度因数确定磁场。