[发明专利]一种基于光透射结果分析的芯片比色检测方法在审

专利信息
申请号: 201910837297.X 申请日: 2019-09-05
公开(公告)号: CN110672594A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 田君飞;吴静;李妙斯;关丽云;陈广学 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/59;G01N21/31
代理公司: 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 代理人: 何淑珍;冯振宁
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于光透射结果分析的芯片比色检测方法。该方法包括:将反应剂溶液滴加在芯片载体上,得到检测芯片;按浓度梯度配制不同浓度的标准检测物溶液;将不同浓度的标准检测物溶液分别滴加在检测芯片的检测区域上,显色,测量透射光,将透射光值与标准检测物溶液的浓度值之间的关系建立标准曲线,得出对应的标准曲线方程;将待测样品溶液滴加在检测芯片的检测区域上,显色,测量透射光,数值化读取待测样品的透射光值,将待测样品的透射光值数据代入标准曲线方程中,计算得到所述待测样品的浓度。该方法步骤简单,易于操作,能改善由于颜色强度的饱和问题造成高浓度检测物的分析结果不准确问题,可广泛应用于生物、化学等检测领域。
搜索关键词: 透射光 标准检测 待测样品 检测芯片 滴加 标准曲线方程 检测区域 显色 测量 待测样品溶液 读取 反应剂溶液 饱和问题 比色检测 标准曲线 关系建立 检测领域 结果分析 浓度梯度 芯片载体 准确问题 光透射 检测物 数值化 配制 芯片 应用
【主权项】:
1.一种基于光透射结果分析的芯片比色检测方法,其特征在于,包括如下步骤:/n(1)将反应剂溶液滴加在芯片载体的检测区域上,干燥得到检测芯片;/n(2)按浓度梯度配制不同浓度的标准检测物溶液;/n(3)将步骤(2)所述不同浓度的标准检测物溶液分别滴加在步骤(1)所述检测芯片的检测区域上,一份检测芯片滴加一种浓度的标准检测物溶液,然后进行显色反应,用仪器测量所述检测芯片的检测区域的透射光,数值化读取检测结果的透射光值,得到每一个浓度标准检测物溶液对应的透射光值;/n(4)将步骤(3)所述透射光值与所述标准检测物溶液的浓度值之间的关系建立标准曲线,得出对应的标准曲线方程;/n(5)将待测样品溶液滴加在步骤(1)所述检测芯片的检测区域上,进行显色反应,然后用仪器测量所述检测芯片的检测区域的透射光,数值化读取待测样品的透射光值,将所述待测样品的透射光值数据代入步骤(4)所述标准曲线方程中,计算得到所述待测样品溶液的浓度。/n
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