[发明专利]一种指认二维各向异性晶体的晶轴和晶界的方法在审
| 申请号： | 201910774153.4 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110455800A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 郑建邦;李萌;朱美洁;冯晴亮 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 11332 北京品源专利代理有限公司 | 代理人： | 巩克栋<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 710072陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种指认二维各向异性晶体的晶轴和晶界的方法，采用单偏光系统与旋转样品相结合研究各向异性晶体的方法，即角分辨偏振光学显微镜(ARPOM)成像法，通过观察不同旋转角度的光学照片的明/暗变化指认晶界，通过绘制衬度值随旋转角度变化的极坐标图指认晶轴，该方法能够快速、准确的指认二维各向异性晶体的晶轴和晶界，且可以保证视野中的光亮度不受其他因素的干扰，同时也解决了光学系统中二向色镜等对不同偏振光响应差异的问题，且不会对样品造成损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 各向异性晶体 晶界 晶轴 二维 偏振光 偏振光学显微镜 二向色镜 光学系统 光学照片 极坐标图 角度变化 成像法 单偏光 角分辨 衬度 损伤 绘制 视野 响应 观察 保证 研究 | ||
【主权项】：
1.一种指认二维各向异性晶体的晶轴的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：/n(1)将生长在基底上的二维各向异性晶体样品以固定间隔角度旋转至少180°，同时使用偏振光学显微镜拍摄得到晶体在不同旋转角度下的光学照片；/n(2)在步骤(1)得到的光学照片基础上，通过软件提取晶体某一相同位置在所述不同旋转角度下的亮度值Ia，以及基底在所述不同旋转角度下的亮度值Ib；/n(3)通过式(I)所示公式分别计算所述不同旋转角度下晶体的衬度值C；/nC＝(Ia-Ib)/Ib 式(I)/n(4)绘制衬度值随旋转角度变化的极坐标图，衬度值最大的两个点的连线即为二维各向异性晶体的(010)晶轴方向，衬度值最小的两个点的连线即为二维各向异性晶体的(100)晶轴方向。/n
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