[发明专利]一种基于EPI的光场图像超分辨的方法有效

专利信息
申请号: 201910764022.8 申请日: 2019-08-19
公开(公告)号: CN110599400B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 肖照林;刘崟海;金海燕;杨秀红;蔡磊 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T7/557
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 王蕊转
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于EPI的光场图像超分辨的方法,包括以下步骤:1、将光场原始图像和光场相机参数读入光场相机中;2、对原始图像进行解码得到四维的光场矩阵;3、提取四维光场矩阵的位置信息中坐标方向的像素点得到子孔径图像;4、将子孔径图像按行循环,依次提取每幅图像相同高度值的像素点,得到EPI图像;5、对步骤4得到的每幅EPI图像进行超分辨;6、对经过超分辨的EPI图像进行去模糊操作,再将每一个像素点还原到子孔径图像上。本发明通过子孔径图像提取EPI切片,通过对EPI切片进行超分辨更加有利于恢复原始图像的局部细节部分,从而在不提高硬件配置的前提下提高光场图像空间分辨率和角度分辨率。
搜索关键词: 一种 基于 epi 图像 分辨 方法
【主权项】:
1.一种基于EPI的光场图像超分辨的方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:/n步骤1、将光场原始图像和光场相机参数读入光场相机中;/n步骤2、对读入相机的光场原始图像进行解码得到四维的光场矩阵;/n步骤3、提取四维光场矩阵的位置信息中坐标方向的像素点得到u×v幅子孔径图像;/n步骤4、将子孔径图像按行循环,在每一行中依次提取每幅图像相同高度值的像素点,得到s幅EPI图像;/n步骤5、对步骤4得到的每幅EPI图像进行超分辨;/n步骤6、对经过超分辨的EPI图像进行去模糊操作,再将每一个像素点还原到子孔径图像上。/n
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