[发明专利]一种基于EPI的光场图像超分辨的方法有效

专利信息
申请号: 201910764022.8 申请日: 2019-08-19
公开(公告)号: CN110599400B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 肖照林;刘崟海;金海燕;杨秀红;蔡磊 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T7/557
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 王蕊转
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 epi 图像 分辨 方法
【权利要求书】:

1.一种基于EPI的光场图像超分辨的方法,其特征在于,具体按照以下步骤实施:

步骤1、将光场原始图像和光场相机参数读入光场相机中;

步骤2、对读入相机的光场原始图像进行解码得到四维的光场矩阵;

步骤3、提取四维光场矩阵的位置信息中坐标方向的像素点得到u×v幅子孔径图像;

步骤4、将子孔径图像按行循环,在每一行中依次提取每幅图像相同高度值的像素点,得到s幅EPI图像;

步骤5、对步骤4得到的每幅EPI图像进行超分辨;具体按照以下步骤实施:

步骤5.1、选取s/2行的EPI图像作为参考帧K,对参考帧K进行插值,并将插值后的参考帧作为超分辨率图像的初始参考图像M;

步骤5.2、将除去s/2行的EPI图像作为低分辨率图像进行插值;

步骤5.3、利用函数对插值后的低分辨率图像进行平滑处理;

步骤5.4、采用运动估计算法计算出经过平滑处理的低分辨率图像相对于M的偏移量;

步骤5.5、根据步骤5.4得到的偏移量计算出经过平滑处理的低分辨率图像中每一个像素点映射到M中的像素位置;

步骤5.6、根据经过平滑处理的低分辨率图像中像素点的位置和映射到M中的像素位置计算出经过平滑处理的低分辨率图像中像素点的估计值;

步骤5.7、计算经过平滑处理的低分辨率图像的实际像素值和步骤5.6得到的估计值之间的残差;

步骤5.8、根据步骤5.7得到的残差对初始参考图像M中的像素值进行修正;

步骤6、对经过超分辨的EPI图像进行去模糊操作,再将每一个像素点还原到子孔径图像上。

2.根据权利要求1所述的一种基于EPI的光场图像超分辨的方法,其特征在于,对所述步骤2中解码后得到的光场矩阵再进行归一化和灰度化然后再进入步骤3。

3.根据权利要求1所述的一种基于EPI的光场图像超分辨的方法,其特征在于,所述步骤5.3中函数为高斯函数。

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