[发明专利]材料表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910747956.0 申请日: 2019-08-13
公开(公告)号: CN110473197A 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 黄霄;刘俊宏;周子怡 申请(专利权)人: 树根互联技术有限公司;上海树根互联技术有限公司;江苏树根互联技术有限公司;广州树根互联技术有限公司;北京树根互联科技有限公司;长沙树根互联技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/62;G01N21/88
代理公司: 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 何少岩<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100094 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种材料表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及材料检测技术领域。本申请通过获取待检测材料表面的图像信息,分别计算图像信息与已标注图像集合中各图像的相似度信息,其中,已标注图像集合包括:多个已标注图像,每个已标注图像包含标注的缺陷信息,若图像信息与已标注图像集合中各图像的相似度信息均未满足预设条件,则采用特征识别模型和预设分类模型分析处理图像信息,获取待检测材料表面对应的缺陷信息,从而实现了对待检测材料表面的缺陷信息进行二级检测,不仅能够提升检测效率,而且可以保证检测精度,减少漏检事件的发生。
搜索关键词: 标注 检测材料 缺陷信息 图像集合 图像信息 图像 相似度信息 计算图像信息 材料检测 存储介质 二级检测 分类模型 分析处理 缺陷检测 特征识别 预设条件 检测 漏检 预设 申请 保证
【主权项】:
1.一种材料表面缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取待检测材料表面的图像信息;/n分别计算所述图像信息与已标注图像集合中各图像的相似度信息,所述已标注图像集合包括:多个已标注图像,每个所述已标注图像包含标注的缺陷信息;/n若所述图像信息与已标注图像集合中各图像的相似度信息均未满足预设条件,则采用特征识别模型和预设分类模型分析处理所述图像信息,获取所述待检测材料表面对应的缺陷信息;其中,所述特征识别模型用于对所述图像信息识别得到所述待检测材料表面的属性特征;所述预设分类模型用于对所述待检测材料表面的属性特征进行分类,并根据分类结果确定所述缺陷信息。/n
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