[发明专利]易于集成的远端温度测量系统在审
申请号: | 201910713065.3 | 申请日: | 2019-08-02 |
公开(公告)号: | CN110470409A | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 张辉 | 申请(专利权)人: | 上海申矽凌微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01 |
代理公司: | 31334 上海段和段律师事务所 | 代理人: | 李佳俊;郭国中<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 201108 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种易于集成的远端温度测量系统,包括:测温芯片340以及被测芯片370;被测芯片370包括CMOS ESD结构,测温芯片340连接所述CMOS ESD结构,利用寄生二极管特性进行温度检测,并通过测温芯片340内部的校准电路进行温度补偿。本发明不需要使用分立的晶体管,也不需要被测芯片使用特殊的CMOS工艺,只利用被测芯片常用的CMOS ESD结构即可测量温度,降低了系统成本,提高了集成度。 | ||
搜索关键词: | 被测芯片 测温芯片 温度测量系统 寄生二极管 温度补偿 温度检测 系统成本 校准电路 集成度 晶体管 分立 远端 测量 | ||
【主权项】:
1.一种易于集成的远端温度测量系统,其特征在于,包括:测温芯片(340)以及被测芯片(370);/n被测芯片(370)包括CMOS ESD结构,测温芯片(340)连接所述CMOS ESD结构,利用寄生二极管特性进行温度检测,并通过测温芯片(340)内部的校准电路进行温度补偿。/n
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