[发明专利]高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910702968.1 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110596466A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 高源慈;李春钰;李通;李洋洋;马余祥 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 敖欢;葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统及检测方法,包括第一吸波材料、高功率真空窗片材料、第一光学镜面、第二圆锥喇叭天线、第二扩展模块、第一扩展模块、第一圆锥喇叭天线、第二耦合膜片、第一耦合膜片、第二光学镜面、第二吸波材料、矢量网络分析仪;通过对开放腔结构和耦合方式进行改进,采用耦合膜片作为馈电方式的开放腔的检测装置,简化了开放腔的馈电方式,降低了光学镜面的加工难度,采用开放腔的结构显著提高了开放腔的品质因数,并提高了检测系统的精确度,以及开放腔腔长可变的装置,显著改进了微波可调频率的范围。
搜索关键词: 开放腔 耦合膜片 圆锥喇叭天线 光学镜面 检测系统 馈电方式 扩展模块 吸波材料 高功率 片材料 真空窗 矢量网络分析仪 电磁参数 检测装置 可调频率 品质因数 耦合方式 光学镜 可变的 腔长 微波 改进 检测 加工
【主权项】:
1.一种高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统,其特征在于:包括矢量网络分析仪(13)、第一扩展模块(7)、第一圆锥喇叭天线(8)、开放腔、第二圆锥喇叭天线(4)、第二扩展模块(6);/n所述开放腔包括第一光学镜面(3)、第二光学镜面(11),开放腔腔体内部用于放置高功率真空窗片材料(2)以及第一耦合膜片(10);第一光学镜面(3)和第二光学镜面(11)的焦点在同一水平线上,该水平线为光轴,所述高功率真空窗片材料(2)横向上位于第一光学镜面(3)和第二光学镜面(11)之间,且高功率真空窗片材料(2)的中心位于所述光轴上;第一耦合膜片(10)的中心也在所述光轴上,所述第一耦合膜片(10)横向上位于高功率真空窗片材料(2)和第二光学镜面(11)之间,第一耦合膜片(10)与所述光轴成45°角度,第一耦合膜片(10)的上方为第一吸波材料(1),第一耦合膜片(10)的下方为第二耦合膜片(9),第一耦合膜片(10)、第一吸波材料(1)、第二耦合膜片(9)三者中心在纵向上对齐;/n所述第二耦合膜片(9)和第一耦合膜片(10)平行位置,第二耦合膜片(9)的下方为第一圆锥喇叭天线(8),第二耦合膜片(9)横向上位于第二圆锥喇叭天线(4)和第二吸波材料(12)之间;第二圆锥喇叭天线(4)、第二耦合膜片(9)、第二吸波材料(12)三者的中心在横向上对齐;/n矢量网络分析仪(13)的输出端通过电缆与第一扩展模块(7)相连,第一扩展模块(7)的输出端与第一圆锥喇叭天线(8)的波导端口相连,第一圆锥喇叭天线(8)和第二耦合膜片(9)二者的中心在纵向上对齐,第二圆锥喇叭天线(4)的波导端口和第二扩展模块(6)连接,第二扩展模块(6)的输出端与矢量网络分析仪(13)的输入端相连。/n
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