[发明专利]高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统及方法

权利要求书

1.一种高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：包括矢量网络分析仪(13)、第一扩展模块(7)、第一圆锥喇叭天线(8)、开放腔、第二圆锥喇叭天线(4)、第二扩展模块(6)；

所述开放腔包括第一光学镜面(3)、第二光学镜面(11)，开放腔腔体内部用于放置高功率真空窗片材料(2)以及第一耦合膜片(10)；第一光学镜面(3)和第二光学镜面(11)的焦点在同一水平线上，该水平线为光轴，所述高功率真空窗片材料(2)横向上位于第一光学镜面(3)和第二光学镜面(11)之间，且高功率真空窗片材料(2)的中心位于所述光轴上；第一耦合膜片(10)的中心也在所述光轴上，所述第一耦合膜片(10)横向上位于高功率真空窗片材料(2)和第二光学镜面(11)之间，第一耦合膜片(10)与所述光轴成45°角度，第一耦合膜片(10)的上方为第一吸波材料(1)，第一耦合膜片(10)的下方为第二耦合膜片(9)，第一耦合膜片(10)、第一吸波材料(1)、第二耦合膜片(9)三者中心在纵向上对齐；

所述第二耦合膜片(9)和第一耦合膜片(10)平行位置，第二耦合膜片(9)的下方为第一圆锥喇叭天线(8)，第二耦合膜片(9)横向上位于第二圆锥喇叭天线(4)和第二吸波材料(12)之间；第二圆锥喇叭天线(4)、第二耦合膜片(9)、第二吸波材料(12)三者的中心在横向上对齐；

矢量网络分析仪(13)的输出端通过电缆与第一扩展模块(7)相连，第一扩展模块(7)的输出端与第一圆锥喇叭天线(8)的波导端口相连，第一圆锥喇叭天线(8)和第二耦合膜片(9)二者的中心在纵向上对齐，第二圆锥喇叭天线(4)的波导端口和第二扩展模块(6)连接，第二扩展模块(6)的输出端与矢量网络分析仪(13)的输入端相连。

2.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：

所述开放腔使太赫兹信号作用于高功率真空窗片材料(2)，通过调整第一光学镜面(3)与第二光学镜面的(11)之间的距离使开放腔达到谐振状态；第一吸波材料(1)用于吸收自由空间中的电磁波防止其进入开放腔；

第一圆锥喇叭天线(8)用于发射太赫兹信号，第二耦合膜片(9)用于对第一圆锥喇叭天线(8)的太赫兹信号进行分束、并将分束后的太赫兹信号传播到第一耦合膜片(10)，太赫兹信号通过第一耦合膜片(10)分束后给开放腔馈电；第一耦合膜片(10)用于给开放腔馈电、使太赫兹信号作用于开放腔产生谐振，将开放腔中谐振的太赫兹信号分束后传播给第二耦合膜片(9)，第二耦合膜片(9)分束后传播到第二圆锥喇叭天线(4)，所述第二圆锥喇叭天线(4)作为接收模块接收第二耦合膜片(9)分束的太赫兹信号；第二吸波材料(12)用于吸收自由空间中的电磁波防止其进入第二耦合膜片(9)；

所述第二扩展模块(6)用于对接收到的太赫兹信号进行放大以及滤波；所述第一扩展模块(7)作为发射前端，用于在通电后产生太赫兹信号并向第一圆锥喇叭天线(8)提供太赫兹信号。

3.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：第一圆锥喇叭天线(8)依次通过第二耦合膜片(9)和第一耦合膜片(10)的分束给开放腔馈电，太赫兹信号经过开放腔反射后又依次通过第一耦合膜片(10)和第二耦合膜片(9)的分束，被第二圆锥喇叭天线(4)接收。

4.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：第二圆锥喇叭天线(4)和第一圆锥喇叭天线(8)的波导端口为矩形波导。

5.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：所述高功率是指峰值功率大于1兆瓦。

6.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：高功率真空窗片材料为人造金刚石。

7.根据权利要求1所述的高功率真空窗片材料的电磁参数检测系统，其特征在于：第一光学镜面(3)和第二光学镜面(11)为黄铜镀银镜面。